Etude de couches minces pour miroirs a rayons X-UV realisees par pulverisation ionique et depot assiste par bombardement ionique. Application du bombardement ionique a l'erosion de surfaces optiques

Etude du comportement electrochimique de l'acier inoxydable : application a la decontamination de pieces d'acier contenant du tritium

Bellanger, Gilbert
CEA Centre d'Etudes de Valduc, 21 - Is-sur-Tille (France)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1464 / INIST-CNRS - I...

Amelioration des proprietes de surface des materiaux par implantation ionique

Robelet, Marc
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Unirec, 42 - Firminy (France)

January 1985

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14642 / INIST-CNRS - Insti...

Etude de l'implantation ionique a haute energie de bore et d'oxygene dans le silicium

Thevenin, Philippe

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80947 / INIST-CNRS ...

Etude de la pulverisation ionique assistee par faisceau d'ions d'oxydes de silicium et de tantale: application aux multicouches optiques

Laprat, Patrice

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79764 / INIST-CNRS -...

Modification de surfaces de silice par bombardement d'ions de gaz rares de faible energie

Khellafi, Mohamed

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81821 / INIST-CNRS -...

Dosimetrie appliquee aux techniques d'ionisation par faisceaux d'electrons

Kuntz, Florent

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80873 / INIST-CNRS ...

Formation de depots de carbone de type diamant sous bombardement ionique

Andre, Bernard
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81745 / INIST-CNRS -...

Etude des applications industrielles des hautes frequences en physicochimie Deux installations d'irradiation controlee des materiaux

Roussy, Georges
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Nancy-1 Univ., 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France). Lab. de Spectroscopie et de Techniques Microondes

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13870 / INIST-CNRS - Insti...

Developpement de l'implantation ionique en tant que traitement de surface de metaux et ceramiques

Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules (IN2P3), 69 - Villeurbanne (France). Inst. de Physique Nucleaire de Lyon
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14327 / INIST-CNRS - ...

Etude des mecanismes reactionnels en volume et des phenomenes de surface dans un reacteur de pulverisation cathodique. Application au controle d'un procede d'elaboration de revetements de nitrures de titane

Czerwiec, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82381 / INIST-CNRS -...

Passivations volumiques et superficielles de photopiles au silicium multicristallin

Torchio, Philippe

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83496 / INIST-CNRS ...

Etude des defauts d'irradiation dans les semi-conducteurs a faible largeur de bande interdite

Favre, Jacques
Ecole Polytechnique, 91 - Palaiseau (France)

January 1989

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79882 / INIST-CNRS -...

Application des donnees du sondeur a retrodiffusion de l'ile Losquet a la teledetection du profil de densite electronique de l'ionosphere

Ruelle, Nicolas

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79888 / INIST-CNRS -...

Etude des modifications de l'indice de refraction de materiaux polymeriques sous irradiations gamma et ionique

Gagnarde, Claude

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84044 / INIST-CNRS - Ins...

Etude du mecanisme d'action du chlore, du charbon actif et du rayonnement ultraviolet sur le bioxyde de chlore et sur les chlorites en milieu aqueux dilue

Karpel Vel Leitner, Nathalie

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80730 / INIST-CNRS -...

Etude du comportement electrochimique de l'acier inoxydable : application a la decontamination de pieces d'acier contenant du tritium

Bellanger, Gilbert
CEA Centre d'Etudes de Valduc, 21 - Is-sur-Tille (France)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1464 / INIST-CNRS - I...

Amelioration des proprietes de surface des materiaux par implantation ionique

Robelet, Marc
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Unirec, 42 - Firminy (France)

January 1985

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14642 / INIST-CNRS - Insti...

Etude de l'implantation ionique a haute energie de bore et d'oxygene dans le silicium

Thevenin, Philippe

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80947 / INIST-CNRS ...

Etude de la pulverisation ionique assistee par faisceau d'ions d'oxydes de silicium et de tantale: application aux multicouches optiques

Laprat, Patrice

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79764 / INIST-CNRS -...

Modification de surfaces de silice par bombardement d'ions de gaz rares de faible energie

Khellafi, Mohamed

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81821 / INIST-CNRS -...

Dosimetrie appliquee aux techniques d'ionisation par faisceaux d'electrons

Kuntz, Florent

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80873 / INIST-CNRS ...

Formation de depots de carbone de type diamant sous bombardement ionique

Andre, Bernard
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81745 / INIST-CNRS -...

Etude des applications industrielles des hautes frequences en physicochimie Deux installations d'irradiation controlee des materiaux

Roussy, Georges
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Nancy-1 Univ., 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France). Lab. de Spectroscopie et de Techniques Microondes

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13870 / INIST-CNRS - Insti...

Developpement de l'implantation ionique en tant que traitement de surface de metaux et ceramiques

Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules (IN2P3), 69 - Villeurbanne (France). Inst. de Physique Nucleaire de Lyon
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14327 / INIST-CNRS - ...

Etude des mecanismes reactionnels en volume et des phenomenes de surface dans un reacteur de pulverisation cathodique. Application au controle d'un procede d'elaboration de revetements de nitrures de titane

Czerwiec, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82381 / INIST-CNRS -...

Passivations volumiques et superficielles de photopiles au silicium multicristallin

Torchio, Philippe

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83496 / INIST-CNRS ...

Etude des defauts d'irradiation dans les semi-conducteurs a faible largeur de bande interdite

Favre, Jacques
Ecole Polytechnique, 91 - Palaiseau (France)

January 1989

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79882 / INIST-CNRS -...

Application des donnees du sondeur a retrodiffusion de l'ile Losquet a la teledetection du profil de densite electronique de l'ionosphere

Ruelle, Nicolas

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79888 / INIST-CNRS -...

Etude des modifications de l'indice de refraction de materiaux polymeriques sous irradiations gamma et ionique

Gagnarde, Claude

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84044 / INIST-CNRS - Ins...

Etude du mecanisme d'action du chlore, du charbon actif et du rayonnement ultraviolet sur le bioxyde de chlore et sur les chlorites en milieu aqueux dilue

Karpel Vel Leitner, Nathalie

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80730 / INIST-CNRS -...

Etude du comportement electrochimique de l'acier inoxydable : application a la decontamination de pieces d'acier contenant du tritium

Bellanger, Gilbert
CEA Centre d'Etudes de Valduc, 21 - Is-sur-Tille (France)

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RM 1464 / INIST-CNRS - I...

Amelioration des proprietes de surface des materiaux par implantation ionique

Robelet, Marc
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Unirec, 42 - Firminy (France)

January 1985

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14642 / INIST-CNRS - Insti...

Etude de l'implantation ionique a haute energie de bore et d'oxygene dans le silicium

Thevenin, Philippe

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80947 / INIST-CNRS ...

Etude de couches minces pour miroirs a rayons X-UV realisees par pulverisation ionique et depot assiste par bombardement ionique. Application du bombardement ionique a l'erosion de surfaces optiques

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Etude de couches minces pour miroirs a rayons X-UV realisees par pulverisation ionique et depot assiste par bombardement ionique. Application du bombardement ionique a l'erosion de surfaces optiques

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