Formation d'interfaces metal-semiconducteur : etude a l'equilibre : Pb/Ge (111); etude cinetique : metaux nobles-Si(100)

Etude par elements finis d'interface des effets de bord et des defauts dans les assemblages colles

Hadj-Rabah, Yacine

January 1991

SIGLEINIST T 76491 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale de la formation de l'interface Mo-Si(III)

Balaska, Hafid

January 1986

SIGLECNRS T 60175 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation electrique de couches ou de fils minces metalliques. Effet thermique d'interface verre-couche amorphe

Messaadi, Saci

January 1987

SIGLECNRS T 62137 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude electronique et physico-chimique des premiers stades de la formation des interfaces GaSb-metal

Doukkali, Mohamed-Aziz

January 1990

SIGLEINIST T 75824 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des interfaces metal noble-semiconducteur : Cu/Si(111) et Au/Si(111) par differentes techniques d'analyse de surface

Mathieu, Gilles

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des interfaces Cu-Si(111) et Cu-Si(100)

Daugy, Eric

January 1984

SIGLET 55951 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des phenomenes de surface et d'interface au cours de la croissance de couches minces de metaux nobles (Au, Ag, Cu) sur des surfaces reelles (100) de silicium et de germanium

Ben Mansour, Fahti

January 1990

SIGLEINIST T 75769 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des surfaces et interfaces metal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'energies d'electrons lents a haute resolution

Contini, Rino

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation electronique d'interfaces profondes Al/InP

Maaref, Hichem

January 1990

SIGLEINIST T 77187 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Couches d'accumulation geantes a diverses interfaces silicium/electrolyte solide : effet de champ par voie electrochimique

Benisty, Henri

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des proprietes de InP(110) : surface clivee propre et formation d'interfaces avec Ag et Ga

Maigne, Pascal

January 1985

SIGLECNRS T 57072 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'interfaces metaux nobles (Cu, Au, Ag)/silicium et de leurs proprietes d'oxydation

Ringeisen, Francis

January 1984

SIGLECNRS T 56485 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la description theorique de l'interface metal noble / solution electrolytique

Russier, Vincent

January 1986

SIGLECNRS T 59785 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Sur l'analyse des proprietes physico-chimiques et electroniques de la surface InP (110) : contribution aux proprietes de l'interface Metal-InP (110)

Dumas, Michel

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mecanismes physiques dus a l'interface dielectrique semiconducteur dans le fonctionnement des transistors a effet de champ sur arseniure de gallium

Benarroche, Daniel

January 1985

SIGLECNRS T 58557 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par elements finis d'interface des effets de bord et des defauts dans les assemblages colles

Hadj-Rabah, Yacine

January 1991

SIGLEINIST T 76491 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale de la formation de l'interface Mo-Si(III)

Balaska, Hafid

January 1986

SIGLECNRS T 60175 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation electrique de couches ou de fils minces metalliques. Effet thermique d'interface verre-couche amorphe

Messaadi, Saci

January 1987

SIGLECNRS T 62137 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude electronique et physico-chimique des premiers stades de la formation des interfaces GaSb-metal

Doukkali, Mohamed-Aziz

January 1990

SIGLEINIST T 75824 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des interfaces metal noble-semiconducteur : Cu/Si(111) et Au/Si(111) par differentes techniques d'analyse de surface

Mathieu, Gilles

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des interfaces Cu-Si(111) et Cu-Si(100)

Daugy, Eric

January 1984

SIGLET 55951 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des phenomenes de surface et d'interface au cours de la croissance de couches minces de metaux nobles (Au, Ag, Cu) sur des surfaces reelles (100) de silicium et de germanium

Ben Mansour, Fahti

January 1990

SIGLEINIST T 75769 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des surfaces et interfaces metal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'energies d'electrons lents a haute resolution

Contini, Rino

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation electronique d'interfaces profondes Al/InP

Maaref, Hichem

January 1990

SIGLEINIST T 77187 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Couches d'accumulation geantes a diverses interfaces silicium/electrolyte solide : effet de champ par voie electrochimique

Benisty, Henri

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des proprietes de InP(110) : surface clivee propre et formation d'interfaces avec Ag et Ga

Maigne, Pascal

January 1985

SIGLECNRS T 57072 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude d'interfaces metaux nobles (Cu, Au, Ag)/silicium et de leurs proprietes d'oxydation

Ringeisen, Francis

January 1984

SIGLECNRS T 56485 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a la description theorique de l'interface metal noble / solution electrolytique

Russier, Vincent

January 1986

SIGLECNRS T 59785 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Sur l'analyse des proprietes physico-chimiques et electroniques de la surface InP (110) : contribution aux proprietes de l'interface Metal-InP (110)

Dumas, Michel

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mecanismes physiques dus a l'interface dielectrique semiconducteur dans le fonctionnement des transistors a effet de champ sur arseniure de gallium

Benarroche, Daniel

January 1985

SIGLECNRS T 58557 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par elements finis d'interface des effets de bord et des defauts dans les assemblages colles

Hadj-Rabah, Yacine

January 1991

SIGLEINIST T 76491 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude experimentale de la formation de l'interface Mo-Si(III)

Balaska, Hafid

January 1986

SIGLECNRS T 60175 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Modelisation electrique de couches ou de fils minces metalliques. Effet thermique d'interface verre-couche amorphe

Messaadi, Saci

January 1987

SIGLECNRS T 62137 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Formation d'interfaces metal-semiconducteur : etude a l'equilibre : Pb/Ge (111); etude cinetique : metaux nobles-Si(100)

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Formation d'interfaces metal-semiconducteur : etude a l'equilibre : Pb/Ge (111); etude cinetique : metaux nobles-Si(100)

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