INTEMIS - Integrierte Testumgebung fuer Mikrosysteme Schlussbericht

Richter, J.
Ruediger, G.
RBM Elektronik-Automation GmbH, Leipzig (Germany)

Publication date

January 1996

Abstract

Available from TIB Hannover: DtF QN1(58,24) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany)DEGerman

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