Analyse microscopique a haute resolution laterale de surface de GaAs a divers stades de traitement

Microscopie par effet tunnel : contribution a l'etude de surfaces metalliques

Rousset, Sylvie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par Microscopie a Effet Tunnel de surfaces de graphite implante et autres applications

Coratger, Roland

January 1991

SIGLEINIST T 76530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Possibilites d'analyse de surface d'elements legers par microanalyse nucleaire

Ramdane, Djamila
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, Institut de Physique Nucleaire de Lyon Villeurbanne (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Chevalier, J.P.
Duseaux, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Vitry-sur-Seine (France). Centre d'Etudes de Chimie Metallurgique
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11463 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a haute resolution des etapes initiales de transformations a l'etat solide

Charai, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel et application a l'etude de surfaces ordonnees de silicium (111)

Thibaudau, Franck

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillance de VLSI par microscopie electronique

Baille, G.
Courtois, B.
Laurent, J
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie analytique de micro-particules de verre volcanique piegees dans les glaces polaires

Fehrenbach, Ludovic

January 1984

SIGLET 55630 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse harmonique des antennes microrubans : effet des ondes de surface

Kedzia, Jean-Claude

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectroscopie de surface de nouveaux materiaux

Erre, Rene
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 45 - Orleans (France). Centre de Recherche sur les Solides a Organisation Cristalline Imparfaite

January 1987

SIGLECNRS AR 12494 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de surface d'onde infrarouge par modulateur acousto-optique

Sinquin, Jean-Christophe

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnees : le silicium (111) reconstruit 7x7, l'or/silicium (111) et le bore-silicium (111)

Dumas, Philippe

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse et caracterisation des defauts par reflectometrie et diffractometrie ultrasonore

Pralus, Y.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre Technique des Industries Mecaniques, 60 - Senlis (France)

January 1984

CNRS AR 10624 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par microscopie in situ des proprietes mecaniques de Ni_3Al

Molenat, Guy

January 1991

SIGLEINIST T 76524 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel : contribution a l'etude de surfaces metalliques

Rousset, Sylvie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par Microscopie a Effet Tunnel de surfaces de graphite implante et autres applications

Coratger, Roland

January 1991

SIGLEINIST T 76530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Possibilites d'analyse de surface d'elements legers par microanalyse nucleaire

Ramdane, Djamila
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, Institut de Physique Nucleaire de Lyon Villeurbanne (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Chevalier, J.P.
Duseaux, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Vitry-sur-Seine (France). Centre d'Etudes de Chimie Metallurgique
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11463 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a haute resolution des etapes initiales de transformations a l'etat solide

Charai, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel et application a l'etude de surfaces ordonnees de silicium (111)

Thibaudau, Franck

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillance de VLSI par microscopie electronique

Baille, G.
Courtois, B.
Laurent, J
Centre National de la Recherche Scientifique, LA 7, Laboratoire d'Informatique et de Mathematiques Appliquees de Grenoble Grenoble (FRANCE)
Universite de Grenoble I, Institut National Polytechnique de Grenoble Grenoble (FRANCE)

January 1982

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie analytique de micro-particules de verre volcanique piegees dans les glaces polaires

Fehrenbach, Ludovic

January 1984

SIGLET 55630 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse harmonique des antennes microrubans : effet des ondes de surface

Kedzia, Jean-Claude

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectroscopie de surface de nouveaux materiaux

Erre, Rene
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 45 - Orleans (France). Centre de Recherche sur les Solides a Organisation Cristalline Imparfaite

January 1987

SIGLECNRS AR 12494 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de surface d'onde infrarouge par modulateur acousto-optique

Sinquin, Jean-Christophe

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnees : le silicium (111) reconstruit 7x7, l'or/silicium (111) et le bore-silicium (111)

Dumas, Philippe

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse et caracterisation des defauts par reflectometrie et diffractometrie ultrasonore

Pralus, Y.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre Technique des Industries Mecaniques, 60 - Senlis (France)

January 1984

CNRS AR 10624 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par microscopie in situ des proprietes mecaniques de Ni_3Al

Molenat, Guy

January 1991

SIGLEINIST T 76524 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel : contribution a l'etude de surfaces metalliques

Rousset, Sylvie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par Microscopie a Effet Tunnel de surfaces de graphite implante et autres applications

Coratger, Roland

January 1991

SIGLEINIST T 76530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Desseaux, J
CEA, CEN Grenoble, 38 (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Analyse microscopique a haute resolution laterale de surface de GaAs a divers stades de traitement

Abstract

Extracted data

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