Etude en microscopie par effet tunnel des premiers stades de croissance de l'interface Pb/Si(111) a temperature ambiante

Etude microstatique du comportement des milieux granulaires

Al-Mansouri, Abdulrahman
Ecole Centrale de Lyon (ECL), 69 - Ecully (France)

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79481 / INIST-CNRS -...

Metrologie du confort Conduite des equipements selon la sensation thermique de l'habitant

Cordier, A.
Cotton, L.
Gessinn, G.
Monchoux, F.
Plan Construction et Architecture, 92 - Puteaux (France)
Toulouse-3 Univ., 31 (France). Lab. Etude des Systemes et Environnement Thermiques de l'Homme (LESETH)

January 1994

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 1282 / INIST-CNRS - I...

Etude de la croissance HgCdTe par OMCVD a basse temperature

Desjonqueres, Frederique

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78564 / INIST-CNRS -...

Etudes topographiques et spectroscopiques de particules metalliques submicroniques par microscopie tunnel

David, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82157 / INIST-CNRS ...

Developpement de la microscopie tunnel a l'air et en milieu aqueux, recherche de substrats ; application a l'etude d'echantillons organiques

Berrehar, Jeanne
Garbarz, Jocelyne
Schott, Michel
Roussel, Joseph
Lacaze, Emmanuelle
Gauthier, Sebastien
Paris-7 Univ., 75 (France). Groupe de Physique des Solides de l'ENS
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14607 / INIST-CNRS - Insti...

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude du comportement mecanique a haute temperature de cermets WC-Co. Effet de la microstructure

Courtial, Yannick
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79118 / INIST-CNRS -...

Etude par microscopie electronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium deforme

Azzaz, Mohamed
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80301 / INIST-CNRS - Inst...

Etude du cisaillement a haute temperature de la phase ordonnee d'un superalliage a base de nickel

Courbon, Joel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79615 / INIST-CNRS -...

Observation par microscopie electronique en transmission et par topographie aux rayons X des dislocations d'interface mobiles dans un bicristal sigma=9 de silicium

Benhorma, Hadi-Aissa
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80945 / INIST-CNRS ...

Mise au point de sondes de mesure de temperature de surface par contact

Hameury, Jacques
Hauck, Christian
Filtz, Jean-Remy
Lechat, Eric
Masson, Philippe
Agence de l'Environnement et de la Maitrise de l'Energie (ADEME), 92 - Vanves (France)
Laboratoire National d'Essais (LNE), 75 - Paris (France)

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 400 (1645) / INIST-CN...

Etude et modelisation d'un anneau resonant micro-onde pour la caracterisation des supraconducteurs a haute temperature critique

Meisse, Pascal
Ecole Nationale Superieure de l'Aeronautique et de l'Espace de Toulouse, 31 (France)

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83717 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique de composes supraconducteurs a haute temperature critique. Evolution structurale induite par recuits ou substitutions

Baules, Pierre

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83320 / INIST-CNRS -...

Microscopie haute resolution en rayons X

Polack, Francois
Joyeux, Denis
Lowenthal, Serge
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13825 / INIST-CNRS - ...

Contribution de la microscopie electronique des echantillons vitrifies a l'etude structurale statique et dynamique des composants musculaires isoles

Menetret, Jean-Francois

January 1990

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78638 / INIST-CNRS - Inst...

Etude microstatique du comportement des milieux granulaires

Al-Mansouri, Abdulrahman
Ecole Centrale de Lyon (ECL), 69 - Ecully (France)

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79481 / INIST-CNRS -...

Metrologie du confort Conduite des equipements selon la sensation thermique de l'habitant

Cordier, A.
Cotton, L.
Gessinn, G.
Monchoux, F.
Plan Construction et Architecture, 92 - Puteaux (France)
Toulouse-3 Univ., 31 (France). Lab. Etude des Systemes et Environnement Thermiques de l'Homme (LESETH)

January 1994

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 1282 / INIST-CNRS - I...

Etude de la croissance HgCdTe par OMCVD a basse temperature

Desjonqueres, Frederique

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78564 / INIST-CNRS -...

Etudes topographiques et spectroscopiques de particules metalliques submicroniques par microscopie tunnel

David, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82157 / INIST-CNRS ...

Developpement de la microscopie tunnel a l'air et en milieu aqueux, recherche de substrats ; application a l'etude d'echantillons organiques

Berrehar, Jeanne
Garbarz, Jocelyne
Schott, Michel
Roussel, Joseph
Lacaze, Emmanuelle
Gauthier, Sebastien
Paris-7 Univ., 75 (France). Groupe de Physique des Solides de l'ENS
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14607 / INIST-CNRS - Insti...

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude du comportement mecanique a haute temperature de cermets WC-Co. Effet de la microstructure

Courtial, Yannick
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79118 / INIST-CNRS -...

Etude par microscopie electronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium deforme

Azzaz, Mohamed
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80301 / INIST-CNRS - Inst...

Etude du cisaillement a haute temperature de la phase ordonnee d'un superalliage a base de nickel

Courbon, Joel
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79615 / INIST-CNRS -...

Observation par microscopie electronique en transmission et par topographie aux rayons X des dislocations d'interface mobiles dans un bicristal sigma=9 de silicium

Benhorma, Hadi-Aissa
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80945 / INIST-CNRS ...

Mise au point de sondes de mesure de temperature de surface par contact

Hameury, Jacques
Hauck, Christian
Filtz, Jean-Remy
Lechat, Eric
Masson, Philippe
Agence de l'Environnement et de la Maitrise de l'Energie (ADEME), 92 - Vanves (France)
Laboratoire National d'Essais (LNE), 75 - Paris (France)

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 400 (1645) / INIST-CN...

Etude et modelisation d'un anneau resonant micro-onde pour la caracterisation des supraconducteurs a haute temperature critique

Meisse, Pascal
Ecole Nationale Superieure de l'Aeronautique et de l'Espace de Toulouse, 31 (France)

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83717 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique de composes supraconducteurs a haute temperature critique. Evolution structurale induite par recuits ou substitutions

Baules, Pierre

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83320 / INIST-CNRS -...

Microscopie haute resolution en rayons X

Polack, Francois
Joyeux, Denis
Lowenthal, Serge
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13825 / INIST-CNRS - ...

Contribution de la microscopie electronique des echantillons vitrifies a l'etude structurale statique et dynamique des composants musculaires isoles

Menetret, Jean-Francois

January 1990

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78638 / INIST-CNRS - Inst...

Etude microstatique du comportement des milieux granulaires

Al-Mansouri, Abdulrahman
Ecole Centrale de Lyon (ECL), 69 - Ecully (France)

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79481 / INIST-CNRS -...

Metrologie du confort Conduite des equipements selon la sensation thermique de l'habitant

Cordier, A.
Cotton, L.
Gessinn, G.
Monchoux, F.
Plan Construction et Architecture, 92 - Puteaux (France)
Toulouse-3 Univ., 31 (France). Lab. Etude des Systemes et Environnement Thermiques de l'Homme (LESETH)

January 1994

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 1282 / INIST-CNRS - I...

Etude de la croissance HgCdTe par OMCVD a basse temperature

Desjonqueres, Frederique

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78564 / INIST-CNRS -...

Etude en microscopie par effet tunnel des premiers stades de croissance de l'interface Pb/Si(111) a temperature ambiante

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