Etude par microscopie electronique en transmission de semiconducteurs II-VI epitaxies par jets moleculaires

Etude en microscopie electronique en transmission des joints de grains dans les polytypes 4H et 6H du carbure de silicium #alpha#

Laurent-Pinson, Elisabeth

January 1989

SIGLEINIST T 71553 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique des effets d'irradiation dans le carbure de bore

Stoto, Tiziana

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Transmission atmospherique des micrometeorites polaires

Bonny, Philippe

January 1990

SIGLEINIST T 73621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Chevalier, J.P.
Duseaux, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Vitry-sur-Seine (France). Centre d'Etudes de Chimie Metallurgique
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11463 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude par microscopie electronique en transmission de defauts de croissance dans les heterostructures III-V

Heral, Helene

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a transmission des defauts induits par irradiation aux ions et aux electrons dans du zirconium pur et quatre de ses alliages

Hellio, Christine

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts de reseau dans les orthopyroxenes deformes naturellement et experimentalement

Naze, Loeiz

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par microscopie electronique en transmission de joints de grains d'oxyde NiO forme par oxydation

Marrouche, Abdelkhalek

January 1985

SIGLECNRS T 57676 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Dispersion energetique en microscopie electronique

Zinzindohoue, PetrosA.

January 1985

SIGLECNRS T 58367 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique du silicium implante et recuit par faisceau d'electrons pulse

Ambri, Mohamed

January 1984

SIGLET 56194 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et test d'une electronique d'interrogation pour une horloge a jet de cesium pompe optiquement

Candelier, Vincent

January 1990

SIGLEINIST T 75273 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Partie A: une nouvelle technique de caracterisation au departement M.P.A.: la microscopie electronique en transmission (M.E.T.). Partie B: Contribution de la M.E.T. a l'analyse structurale des materiaux semiconducteurs

Guenais, B.
Poudoulec, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Lannion B, Division Investigation de Composants et Materiaux Lannion (FRANCE)

CNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude en microscopie electronique en transmission des joints de grains dans les polytypes 4H et 6H du carbure de silicium #alpha#

Laurent-Pinson, Elisabeth

January 1989

SIGLEINIST T 71553 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique des effets d'irradiation dans le carbure de bore

Stoto, Tiziana

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Transmission atmospherique des micrometeorites polaires

Bonny, Philippe

January 1990

SIGLEINIST T 73621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Chevalier, J.P.
Duseaux, M.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 94 - Vitry-sur-Seine (France). Centre d'Etudes de Chimie Metallurgique
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11463 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude par microscopie electronique en transmission de defauts de croissance dans les heterostructures III-V

Heral, Helene

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a transmission des defauts induits par irradiation aux ions et aux electrons dans du zirconium pur et quatre de ses alliages

Hellio, Christine

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts de reseau dans les orthopyroxenes deformes naturellement et experimentalement

Naze, Loeiz

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par microscopie electronique en transmission de joints de grains d'oxyde NiO forme par oxydation

Marrouche, Abdelkhalek

January 1985

SIGLECNRS T 57676 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Dispersion energetique en microscopie electronique

Zinzindohoue, PetrosA.

January 1985

SIGLECNRS T 58367 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique du silicium implante et recuit par faisceau d'electrons pulse

Ambri, Mohamed

January 1984

SIGLET 56194 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude et test d'une electronique d'interrogation pour une horloge a jet de cesium pompe optiquement

Candelier, Vincent

January 1990

SIGLEINIST T 75273 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Partie A: une nouvelle technique de caracterisation au departement M.P.A.: la microscopie electronique en transmission (M.E.T.). Partie B: Contribution de la M.E.T. a l'analyse structurale des materiaux semiconducteurs

Guenais, B.
Poudoulec, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Lannion B, Division Investigation de Composants et Materiaux Lannion (FRANCE)

CNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude en microscopie electronique en transmission des joints de grains dans les polytypes 4H et 6H du carbure de silicium #alpha#

Laurent-Pinson, Elisabeth

January 1989

SIGLEINIST T 71553 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique des effets d'irradiation dans le carbure de bore

Stoto, Tiziana

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Transmission atmospherique des micrometeorites polaires

Bonny, Philippe

January 1990

SIGLEINIST T 73621 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission de semiconducteurs II-VI epitaxies par jets moleculaires

Abstract

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