Microscope photoelectronique a rayons X Processeur cellulaire optique, effet photorefractif

Reseau de capteurs optoalimente a fibre optique et optique integree

Formont, S.
Turpin, M.
Le Pesant, J.P.
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Thomson-CSF, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches

January 1992

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14359 / INIST-CNRS - Insti...

Mecanismes de deformation du platre humide : observations au microscope electronique a balayage

Boucher, Benedicte
Centre Scientifique et Technique du Batiment, 44 - Nantes (France). Etablissement de Nantes

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 14386 / INIST-CNRS - ...

Etude de couches organiques pour modulateur electro-optique en optique integree

Thomson, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14157 / INIST-CNRS - ...

Microscope photoelectronique a rayons X. Processeur cellulaire optique. Effet photorefractif

Lowenthal, Serge
Polack, Francois
Chavel, Pierre
Roosen, Gerald
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13789 / INIST-CNRS - Insti...

Construction d'un microscope optique a champ proche Utilisation pour visualisation de structures submicroniques semiconducteurs et biologiques

Goudonnet, J.P.
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 21 - Dijon (France). Lab. de Physique du Solide Dielectriques et Photoelectricite
Dijon Univ., 21 (France). Lab. de Physique des Solides
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1992

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14325 / INIST-CNRS - Insti...

Realisation d'un prototype de microscope ESCA

Beaulaigue-Carpot, Laurence

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 77827 / INIST-CNRS -...

Mise au point d'un detecteur interferometrique pour microscope optique en champ proche

Cretin, Bernard
Spajer, Michel
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 25 - Besancon (France). Lab. de Physique et Metrologie des Oscillateurs
Besancon Univ., 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15885 / INIST-CNRS - Ins...

Etude et realisation d'un microscope de reconstruction pour hologrammes X

Polack, Francois
Mercier, Raymond
Phalippou, Daniel
Joyeux, Denis
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee
Paris-6 Univ., 91 - Orsay (France). Lab. d'Optique
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

January 1994

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 16446 / INIST-CNRS - Ins...

Microscope a rayons X a haute resolution par effet photoelectronique

Polack, Francois
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee.
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

CNRS AR 11550 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Developpement d'un microscope a balayage a detection de champ proche fonctionnant en reflexion Application a la nanoprofilometrie de surface

Spajer, Michel
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Besancon Univ., 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15340 / INIST-CNRS - ...

Nouvelles techniques de microscope et synthese d'images associee, adaptees a la metrologie de structures tridimensionnelles submicroniques Application a la microelectronique

Lacombat, Michel
Hignette, Olivier
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Micro-Controle, 91 - Evry (France)

January 1991

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14605 / INIST-CNRS - Insti...

Un microscope photothermique pour caracteriser les proprietes thermoelastiques microscopiques

Jumel, J.
Taillade, F.
Lepoutre, F.
Roger, J.P.
Fournier, D.
Office National d'Etudes et de Recherches Aerospatiales (ONERA), 92 - Chatillon (France)

January 2001

Communication to : Congres interdisciplinaire en instrumentation 'C21 2001', Paris (France), 31 janv...

L'opto-electronique : contexte technologique, principales applications et developpements aux USA

GC Conseil, 94 - L'Hay-les-Roses (France)

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10308 / INIST-CNRS - Insti...

Microscopie en reflexion par fibres optiques: theorie et realisation

Cerre, Nathalie

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82028 / INIST-CNRS ...

Caracterisation des substrats photorefractifs InP:Fe: etude de la reponse temporelle et realisation d'un banc automatique

Abdelghani-Idrissi, Moulay Ahmed

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81295 / INIST-CNRS -...

Reseau de capteurs optoalimente a fibre optique et optique integree

Formont, S.
Turpin, M.
Le Pesant, J.P.
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Thomson-CSF, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches

January 1992

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14359 / INIST-CNRS - Insti...

Mecanismes de deformation du platre humide : observations au microscope electronique a balayage

Boucher, Benedicte
Centre Scientifique et Technique du Batiment, 44 - Nantes (France). Etablissement de Nantes

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 14386 / INIST-CNRS - ...

Etude de couches organiques pour modulateur electro-optique en optique integree

Thomson, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14157 / INIST-CNRS - ...

Microscope photoelectronique a rayons X. Processeur cellulaire optique. Effet photorefractif

Lowenthal, Serge
Polack, Francois
Chavel, Pierre
Roosen, Gerald
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13789 / INIST-CNRS - Insti...

Construction d'un microscope optique a champ proche Utilisation pour visualisation de structures submicroniques semiconducteurs et biologiques

Goudonnet, J.P.
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 21 - Dijon (France). Lab. de Physique du Solide Dielectriques et Photoelectricite
Dijon Univ., 21 (France). Lab. de Physique des Solides
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1992

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14325 / INIST-CNRS - Insti...

Realisation d'un prototype de microscope ESCA

Beaulaigue-Carpot, Laurence

January 1990

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 77827 / INIST-CNRS -...

Mise au point d'un detecteur interferometrique pour microscope optique en champ proche

Cretin, Bernard
Spajer, Michel
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 25 - Besancon (France). Lab. de Physique et Metrologie des Oscillateurs
Besancon Univ., 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15885 / INIST-CNRS - Ins...

Etude et realisation d'un microscope de reconstruction pour hologrammes X

Polack, Francois
Mercier, Raymond
Phalippou, Daniel
Joyeux, Denis
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee
Paris-6 Univ., 91 - Orsay (France). Lab. d'Optique
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

January 1994

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 16446 / INIST-CNRS - Ins...

Microscope a rayons X a haute resolution par effet photoelectronique

Polack, Francois
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee.
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

CNRS AR 11550 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Developpement d'un microscope a balayage a detection de champ proche fonctionnant en reflexion Application a la nanoprofilometrie de surface

Spajer, Michel
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Besancon Univ., 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 25 - Besancon (France). Lab. d'Optique Pierre Michel Duffieux

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15340 / INIST-CNRS - ...

Nouvelles techniques de microscope et synthese d'images associee, adaptees a la metrologie de structures tridimensionnelles submicroniques Application a la microelectronique

Lacombat, Michel
Hignette, Olivier
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Micro-Controle, 91 - Evry (France)

January 1991

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14605 / INIST-CNRS - Insti...

Un microscope photothermique pour caracteriser les proprietes thermoelastiques microscopiques

Jumel, J.
Taillade, F.
Lepoutre, F.
Roger, J.P.
Fournier, D.
Office National d'Etudes et de Recherches Aerospatiales (ONERA), 92 - Chatillon (France)

January 2001

Communication to : Congres interdisciplinaire en instrumentation 'C21 2001', Paris (France), 31 janv...

L'opto-electronique : contexte technologique, principales applications et developpements aux USA

GC Conseil, 94 - L'Hay-les-Roses (France)

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 10308 / INIST-CNRS - Insti...

Microscopie en reflexion par fibres optiques: theorie et realisation

Cerre, Nathalie

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82028 / INIST-CNRS ...

Caracterisation des substrats photorefractifs InP:Fe: etude de la reponse temporelle et realisation d'un banc automatique

Abdelghani-Idrissi, Moulay Ahmed

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81295 / INIST-CNRS -...

Reseau de capteurs optoalimente a fibre optique et optique integree

Formont, S.
Turpin, M.
Le Pesant, J.P.
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)
Thomson-CSF, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches

January 1992

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14359 / INIST-CNRS - Insti...

Mecanismes de deformation du platre humide : observations au microscope electronique a balayage

Boucher, Benedicte
Centre Scientifique et Technique du Batiment, 44 - Nantes (France). Etablissement de Nantes

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : RP 14386 / INIST-CNRS - ...

Etude de couches organiques pour modulateur electro-optique en optique integree

Thomson, 91 - Orsay (France). Lab. Central de Recherches
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)

January 1990

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14157 / INIST-CNRS - ...

Microscope photoelectronique a rayons X Processeur cellulaire optique, effet photorefractif

Abstract

Extracted data

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