Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnees : le silicium (111) reconstruit 7x7, l'or/silicium (111) et le bore-silicium (111)

Scanning tunnelling microscopy of Si(111), Pb-Si(111) and Si(113)

Hadley, M

January 1992

SIGLEAvailable from British Library Document Supply Centre- DSC:DX173188 / BLDSC - British Library D...

Etude, par microscopie electronique en transmission, de la formation de siliciure de platine obtenu par pulverisation sur un substrat de silicium (001)

Doriot Ghestin, Sylvie

January 1990

INIST T 74008 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Elaboration et caractérisation physique par microscopies à champ proche de nanostructures semi-conductrices

LEGRAND, Bernard
STIEVENARD, Didier

January 2000

Dans un premier temps, le microscope a force atomique (afm) a ete mis en uvre pour fabriquer des nan...

Microscopie par effet tunnel et application a l'etude de surfaces ordonnees de silicium (111)

Thibaudau, Franck

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel : contribution a l'etude de surfaces metalliques

Rousset, Sylvie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de surface du silicium par microscopsie a emission de champ

Chaouch Braham, Mounir

January 1990

SIGLEINIST T 72027 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie à effet tunnel des surfaces de GaSe hétéroépitaxié sur Si

Guy Michel Guichar
Mohammed Said Belkaid
Marc Morand
Youri Koudinov

January 1994

GaSe lamellar compound surfaces have been studied using scanning tunneling microscopy (S.T.M.). Firs...

Etude par Microscopie a Effet Tunnel de surfaces de graphite implante et autres applications

Coratger, Roland

January 1991

SIGLEINIST T 76530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

S.T.M. studies on semiconductor surfaces and metal-semiconductor interfaces

Frank Palmino
Philippe Dumas
Frank Thibaudau
Philippe Mathiez
Christian Mouttet
Frank Salvan

January 1990

In the last few years, a better understanding of the structural and electronic properties of surface...

Etude par microscopie à effets tunnel in situ de la croissance et de la structure des couches passives sur nickel en milieu alcalin (effet des ions chlorures)

SEYEUX, Antoine
MAURICE, Vincent

January 2006

PARIS-BIUSJ-Thèses (751052125) / SudocPARIS-BIUSJ-Physique recherche (751052113) / SudocSudocFranceF

Etude des faces vicinales du silicium (100) et de leur oxydation

Bensalah, Yassine
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Scanning tunneling microscopie laat structureel onderzoek van oppervlakken toe met atomaire resolutie

Sande, Werner Van De
Louvain Katholieke Univ. (Belgium)

January 1987

SIGLEKULeuven Campusbibliotheek Exacte Wetenschappen / UCL - Université Catholique de LouvainBEBelgi...

Etude de surfaces monocristallines de silicium par reflexion d'electrons : degradation par implantation d'ions argon, reorganisation par recuit

Faure, Joeel

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Possibilites d'analyse de surface d'elements legers par microanalyse nucleaire

Ramdane, Djamila
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, Institut de Physique Nucleaire de Lyon Villeurbanne (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Réactivité des nitriles sur la surface Si(001)-2x1, étudiée par spectroscopie de photoémission, d'absorption X, et microscopie tunnel

RANGAN, Sylvie
ROCHET, François

January 2004

PARIS-BIUSJ-Thèses (751052125) / SudocPARIS-BIUSJ-Physique recherche (751052113) / SudocSudocFranceF

Scanning tunnelling microscopy of Si(111), Pb-Si(111) and Si(113)

Hadley, M

January 1992

SIGLEAvailable from British Library Document Supply Centre- DSC:DX173188 / BLDSC - British Library D...

Etude, par microscopie electronique en transmission, de la formation de siliciure de platine obtenu par pulverisation sur un substrat de silicium (001)

Doriot Ghestin, Sylvie

January 1990

INIST T 74008 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Elaboration et caractérisation physique par microscopies à champ proche de nanostructures semi-conductrices

LEGRAND, Bernard
STIEVENARD, Didier

January 2000

Dans un premier temps, le microscope a force atomique (afm) a ete mis en uvre pour fabriquer des nan...

Microscopie par effet tunnel et application a l'etude de surfaces ordonnees de silicium (111)

Thibaudau, Franck

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie par effet tunnel : contribution a l'etude de surfaces metalliques

Rousset, Sylvie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude de surface du silicium par microscopsie a emission de champ

Chaouch Braham, Mounir

January 1990

SIGLEINIST T 72027 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscopie à effet tunnel des surfaces de GaSe hétéroépitaxié sur Si

Guy Michel Guichar
Mohammed Said Belkaid
Marc Morand
Youri Koudinov

January 1994

GaSe lamellar compound surfaces have been studied using scanning tunneling microscopy (S.T.M.). Firs...

Etude par Microscopie a Effet Tunnel de surfaces de graphite implante et autres applications

Coratger, Roland

January 1991

SIGLEINIST T 76530 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

S.T.M. studies on semiconductor surfaces and metal-semiconductor interfaces

Frank Palmino
Philippe Dumas
Frank Thibaudau
Philippe Mathiez
Christian Mouttet
Frank Salvan

January 1990

In the last few years, a better understanding of the structural and electronic properties of surface...

Etude par microscopie à effets tunnel in situ de la croissance et de la structure des couches passives sur nickel en milieu alcalin (effet des ions chlorures)

SEYEUX, Antoine
MAURICE, Vincent

January 2006

PARIS-BIUSJ-Thèses (751052125) / SudocPARIS-BIUSJ-Physique recherche (751052113) / SudocSudocFranceF

Etude des faces vicinales du silicium (100) et de leur oxydation

Bensalah, Yassine
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 69 - Villeurbanne (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Scanning tunneling microscopie laat structureel onderzoek van oppervlakken toe met atomaire resolutie

Sande, Werner Van De
Louvain Katholieke Univ. (Belgium)

January 1987

SIGLEKULeuven Campusbibliotheek Exacte Wetenschappen / UCL - Université Catholique de LouvainBEBelgi...

Etude de surfaces monocristallines de silicium par reflexion d'electrons : degradation par implantation d'ions argon, reorganisation par recuit

Faure, Joeel

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Possibilites d'analyse de surface d'elements legers par microanalyse nucleaire

Ramdane, Djamila
Institut National de Physique Nucleaire et de Physique des Particules, Institut de Physique Nucleaire de Lyon Villeurbanne (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Réactivité des nitriles sur la surface Si(001)-2x1, étudiée par spectroscopie de photoémission, d'absorption X, et microscopie tunnel

RANGAN, Sylvie
ROCHET, François

January 2004

PARIS-BIUSJ-Thèses (751052125) / SudocPARIS-BIUSJ-Physique recherche (751052113) / SudocSudocFranceF

Scanning tunnelling microscopy of Si(111), Pb-Si(111) and Si(113)

Hadley, M

January 1992

SIGLEAvailable from British Library Document Supply Centre- DSC:DX173188 / BLDSC - British Library D...

Etude, par microscopie electronique en transmission, de la formation de siliciure de platine obtenu par pulverisation sur un substrat de silicium (001)

Doriot Ghestin, Sylvie

January 1990

INIST T 74008 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Elaboration et caractérisation physique par microscopies à champ proche de nanostructures semi-conductrices

LEGRAND, Bernard
STIEVENARD, Didier

January 2000

Dans un premier temps, le microscope a force atomique (afm) a ete mis en uvre pour fabriquer des nan...

Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnees : le silicium (111) reconstruit 7x7, l'or/silicium (111) et le bore-silicium (111)

Abstract

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Etude en microscopie par effet tunnel de surfaces ordonnees : le silicium (111) reconstruit 7x7, l'or/silicium (111) et le bore-silicium (111)

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