Etudes et conception de sources lasers : mise au point de lasers submillimetriques, application a l'analyse des spectres induits

Etude de faisabilite en spectrometrie par effet photogalvanique

Stehle, Robert
Delegation Generale a la Recherche Scientifique et Technique, Paris (France)

January 1982

Action concertee: instruments de mesure, optique laserSIGLEAvailable from Centre de Documentation Sc...

Application de la spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante a l'etude des processus multiphotoniques des interactions laser-surface et a l'analyse de traces dans les materiaux

Gibert, Titaina

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82369 / INIST-CNRS -...

Spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante: etude des processus multiphotoniques et application a l'analyse des materiaux solides

Gobert, Olivier

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de l'ionisation resonnante par laser et application a l'analyse de materiaux

Gelin, Patrice

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie submillimetrique du difluoromethane : application a l'analyse du mecanisme laser

Martinache, Laurent

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Realisation d'un spectrometre submillimetrique a bandes laterales laser

Brown, Francois

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des bruits electriques et optiques des lasers a semiconducteur pour ll'emission a la longueur d'onde de 0,8 micrometre

Raniriharinosy, Karyl

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectres optiques de diodes laser : methodes d'analyse des spectres, modelisation physique

Ding, Hao

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude physique du laser a puits quantique

Nagle, Julien

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Principales caracteristiques des lasers a semiconducteurs a cavite etendue : application a l'amelioration des proprietes spectrales des diodes laser

De Labachelerie, Michel

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par transillumination laser d'organes de mammiferes avec analyse spectrale et resolution temporelle

Perez, Jose

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mesure de tailles de particules par une methode optique utilisant : la diffraction de lumiere laser

Kouzelis, Dimitris
Ecole Centrale des Arts et Manufactures, 92 - Chatenay-Malabry (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude theorique et experimentale des modes propres et etats propres dans les lasers en anneau. Applications a la gyrometrie et a la detection d'effets petits

Bretenaker, Fabien

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 20550 / INIST-CNRS - Ins...

Lasers a electrons libres circulaires

Hartemann, Frederic

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie laser de fibres optiques monomodes dopees par des ions terres-rares : etude d'un capteur et application a l'amplification

Marcerou, Jean Francois

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de faisabilite en spectrometrie par effet photogalvanique

Stehle, Robert
Delegation Generale a la Recherche Scientifique et Technique, Paris (France)

January 1982

Action concertee: instruments de mesure, optique laserSIGLEAvailable from Centre de Documentation Sc...

Application de la spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante a l'etude des processus multiphotoniques des interactions laser-surface et a l'analyse de traces dans les materiaux

Gibert, Titaina

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82369 / INIST-CNRS -...

Spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante: etude des processus multiphotoniques et application a l'analyse des materiaux solides

Gobert, Olivier

January 1989

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Etude de l'ionisation resonnante par laser et application a l'analyse de materiaux

Gelin, Patrice

January 1989

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Spectroscopie submillimetrique du difluoromethane : application a l'analyse du mecanisme laser

Martinache, Laurent

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Realisation d'un spectrometre submillimetrique a bandes laterales laser

Brown, Francois

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des bruits electriques et optiques des lasers a semiconducteur pour ll'emission a la longueur d'onde de 0,8 micrometre

Raniriharinosy, Karyl

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectres optiques de diodes laser : methodes d'analyse des spectres, modelisation physique

Ding, Hao

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude physique du laser a puits quantique

Nagle, Julien

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Principales caracteristiques des lasers a semiconducteurs a cavite etendue : application a l'amelioration des proprietes spectrales des diodes laser

De Labachelerie, Michel

January 1988

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Etude par transillumination laser d'organes de mammiferes avec analyse spectrale et resolution temporelle

Perez, Jose

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Mesure de tailles de particules par une methode optique utilisant : la diffraction de lumiere laser

Kouzelis, Dimitris
Ecole Centrale des Arts et Manufactures, 92 - Chatenay-Malabry (France)

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude theorique et experimentale des modes propres et etats propres dans les lasers en anneau. Applications a la gyrometrie et a la detection d'effets petits

Bretenaker, Fabien

January 1992

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Lasers a electrons libres circulaires

Hartemann, Frederic

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie laser de fibres optiques monomodes dopees par des ions terres-rares : etude d'un capteur et application a l'amplification

Marcerou, Jean Francois

January 1989

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Etude de faisabilite en spectrometrie par effet photogalvanique

Stehle, Robert
Delegation Generale a la Recherche Scientifique et Technique, Paris (France)

January 1982

Action concertee: instruments de mesure, optique laserSIGLEAvailable from Centre de Documentation Sc...

Application de la spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante a l'etude des processus multiphotoniques des interactions laser-surface et a l'analyse de traces dans les materiaux

Gibert, Titaina

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82369 / INIST-CNRS -...

Spectrometrie de masse par ionisation laser resonnante: etude des processus multiphotoniques et application a l'analyse des materiaux solides

Gobert, Olivier

January 1989

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Etudes et conception de sources lasers : mise au point de lasers submillimetriques, application a l'analyse des spectres induits

Abstract

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