Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Deconvolution de courbes experimentales sur micro-ordinateurs

Thiery, J.M.
Hervo, Guy
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)

January 1982

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 - Gif-sur-Yvette Cedex (France) / IN...

L'electronique de l'image graphique dans les micro-ordinateurs

Gallo, Jean-Claude

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Interpretation microscopique de la densite de transition du Ni et du Sm

Girod, M.
Grammaticos, B
CEA, Centre d'Etudes de Bruyeres-le-Chatel, 92 - Montrouge (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Structure des joints en microscopie electronique haute resolution (MEHR)

Bourret, A.
Anterroches, C. d'
Penisson, J.M
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France)

January 1982

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 - Gif-sur-Yvette Cedex (France) / IN...

Etude par microscopie electronique a haute resolution des etapes initiales de transformations a l'etat solide

Charai, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Utilisation de la microscopie electronique a haute tension et de l'analyse dispersive en lames minces dans l'etude des effets d'irradiation dans les materiaux de coeur des reacteurs nucleaires

Levy, Viviane
CEA, CEN Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)

January 1981

Available from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIST-CNR...

Acquisition des images en microscopie electronique a balayage in situ

Le Floch, Herve

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Reconstruction et visualisation de surfaces et de volumes en microscopie electronique a transmission et en microscopie confocale

Gremillet, Philippe

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83579 / INIST-CNRS ...

Etude in situ par microscopie electronique a tres haute tension des proprietes mecaniques a chaud des ceramiques

Philibert, J
FRT Paris (FRANCE)
Centre national de la recherche scientifique, LP 1341, Laboratoire de physique des materiaux Meudon (FRANCE)

January 1984

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscope a rayons X a haute resolution par effet photoelectronique

Polack, Francois
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee.
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

CNRS AR 11550 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Traitement d'images de microscopie electronique applique a l'etude structurale de macromolecules biologiques

Louys, Mireille

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Microscopie ionique a balayage a haute resolution spatiale : obtention simultanee d'images filtrees par un specrometre de masses a fort pouvoir separateur

Boust, Fabrice
Office National d'Etudes et de Recherches Aerospatiales (ONERA), 92 - Chatillon (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : 190 A, issue : a.1990 n.7 / I...

Microscopie haute resolution en rayons X

Polack, Francois
Joyeux, Denis
Lowenthal, Serge
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13825 / INIST-CNRS - ...

Microscopie a resolution atomique Paris, janvier 1994, resumes

Societe Francaise de Chimie, 75 - Paris (France). Div. de Chimie Analytique

January 1994

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : Y 30283 / INIST-CNRS - Instit...

Deconvolution de courbes experimentales sur micro-ordinateurs

Thiery, J.M.
Hervo, Guy
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)

January 1982

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 - Gif-sur-Yvette Cedex (France) / IN...

L'electronique de l'image graphique dans les micro-ordinateurs

Gallo, Jean-Claude

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Interpretation microscopique de la densite de transition du Ni et du Sm

Girod, M.
Grammaticos, B
CEA, Centre d'Etudes de Bruyeres-le-Chatel, 92 - Montrouge (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Structure des joints en microscopie electronique haute resolution (MEHR)

Bourret, A.
Anterroches, C. d'
Penisson, J.M
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Grenoble, 38 (France)

January 1982

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 - Gif-sur-Yvette Cedex (France) / IN...

Etude par microscopie electronique a haute resolution des etapes initiales de transformations a l'etat solide

Charai, Ahmed

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Utilisation de la microscopie electronique a haute tension et de l'analyse dispersive en lames minces dans l'etude des effets d'irradiation dans les materiaux de coeur des reacteurs nucleaires

Levy, Viviane
CEA, CEN Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)

January 1981

Available from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIST-CNR...

Acquisition des images en microscopie electronique a balayage in situ

Le Floch, Herve

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Reconstruction et visualisation de surfaces et de volumes en microscopie electronique a transmission et en microscopie confocale

Gremillet, Philippe

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 83579 / INIST-CNRS ...

Etude in situ par microscopie electronique a tres haute tension des proprietes mecaniques a chaud des ceramiques

Philibert, J
FRT Paris (FRANCE)
Centre national de la recherche scientifique, LP 1341, Laboratoire de physique des materiaux Meudon (FRANCE)

January 1984

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Microscope a rayons X a haute resolution par effet photoelectronique

Polack, Francois
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee.
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee

CNRS AR 11550 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Traitement d'images de microscopie electronique applique a l'etude structurale de macromolecules biologiques

Louys, Mireille

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Microscopie ionique a balayage a haute resolution spatiale : obtention simultanee d'images filtrees par un specrometre de masses a fort pouvoir separateur

Boust, Fabrice
Office National d'Etudes et de Recherches Aerospatiales (ONERA), 92 - Chatillon (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : 190 A, issue : a.1990 n.7 / I...

Microscopie haute resolution en rayons X

Polack, Francois
Joyeux, Denis
Lowenthal, Serge
Ministere de la Recherche et de la Technologie (MRT), 75 - Paris (France)
Paris-11 Univ., 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et Appliquee
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 91 - Orsay (France). Inst. d'Optique Theorique et appliquee

January 1991

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 13825 / INIST-CNRS - ...

Microscopie a resolution atomique Paris, janvier 1994, resumes

Societe Francaise de Chimie, 75 - Paris (France). Div. de Chimie Analytique

January 1994

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : Y 30283 / INIST-CNRS - Instit...

Deconvolution de courbes experimentales sur micro-ordinateurs

Thiery, J.M.
Hervo, Guy
CEA Centre d'Etudes Nucleaires de Saclay, 91 - Gif-sur-Yvette (France)

January 1982

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 - Gif-sur-Yvette Cedex (France) / IN...

L'electronique de l'image graphique dans les micro-ordinateurs

Gallo, Jean-Claude

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Interpretation microscopique de la densite de transition du Ni et du Sm

Girod, M.
Grammaticos, B
CEA, Centre d'Etudes de Bruyeres-le-Chatel, 92 - Montrouge (France)

January 1981

SIGLEAvailable from CEN Saclay, Service de Documentation, 91191 Gif-sur-Yvette Cedex (France) / INIS...

Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

Abstract

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Microscopie electronique a haute resolution. Visualisation des reseaux cristallins et de leurs defauts

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