Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Analyse microscopique a haute resolution laterale de surface de GaAs a divers stades de traitement

Erman, M.
Theeten, J.B.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11206 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique en transmission de semiconducteurs II-VI epitaxies par jets moleculaires

Di Cioccio, Lea
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T 64605 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude par microscopie electronique en transmission de defauts de croissance dans les heterostructures III-V

Heral, Helene

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a transmission des defauts induits par irradiation aux ions et aux electrons dans du zirconium pur et quatre de ses alliages

Hellio, Christine

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts de reseau dans les orthopyroxenes deformes naturellement et experimentalement

Naze, Loeiz

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Proprietes electroniques et optiques des superreseaux GaAs/GaAlAs de petites periodes

Chomette, Andre

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de defauts dans les semiconducteurs GaAs et ZnTe par resonance paramagnetique electronique et par resonance magnetique detectee optiquement

Bittebierre, Jean

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude en microscopie electronique en transmission des joints de grains dans les polytypes 4H et 6H du carbure de silicium #alpha#

Laurent-Pinson, Elisabeth

January 1989

SIGLEINIST T 71553 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par microscopie electronique en transmission de joints de grains d'oxyde NiO forme par oxydation

Marrouche, Abdelkhalek

January 1985

SIGLECNRS T 57676 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude du centre EL2 dans GaAs semi-isolant par photoextinction des images de transmission infra-rouge

Kang, Seong Jun

January 1990

SIGLEINIST T 75827 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des distributions electroniques des semiconducteurs amorphes et cristallises GaAs et Ge_1_-_*Se_*

Guita, Sadreddine

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse microscopique a haute resolution laterale de surface de GaAs a divers stades de traitement

Erman, M.
Theeten, J.B.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11206 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique en transmission de semiconducteurs II-VI epitaxies par jets moleculaires

Di Cioccio, Lea
Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), 38 (France)

January 1988

SIGLECNRS T 64605 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude par microscopie electronique en transmission de defauts de croissance dans les heterostructures III-V

Heral, Helene

January 1986

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique a transmission des defauts induits par irradiation aux ions et aux electrons dans du zirconium pur et quatre de ses alliages

Hellio, Christine

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts de reseau dans les orthopyroxenes deformes naturellement et experimentalement

Naze, Loeiz

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Proprietes electroniques et optiques des superreseaux GaAs/GaAlAs de petites periodes

Chomette, Andre

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

De l'usage de la microscopie electronique en transmission (moyenne et haute resolution) a l'etude des composants elementaires: substrat, L.O.C.O.S., interfaces

D'Anterroches, C.
Gonchond, J.-P.
Moi, D.
Perio, A
Centre National d'Etudes des Telecommunications, Grenoble, Division Recherches Physiques et Technologiques Meylan (FRANCE)

January 1983

SIGLECNRS-CDST / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude de defauts dans les semiconducteurs GaAs et ZnTe par resonance paramagnetique electronique et par resonance magnetique detectee optiquement

Bittebierre, Jean

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude en microscopie electronique en transmission des joints de grains dans les polytypes 4H et 6H du carbure de silicium #alpha#

Laurent-Pinson, Elisabeth

January 1989

SIGLEINIST T 71553 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse de defaillances de circuits integres par microscopie electronique: premieres experimentations

Bergher, Laurent
Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 38 - Saint-Martin-d'Heres (France). Informatique et Mathematiques Appliquees de Grenoble
Grenoble-1 Univ., 38 (France)
Institut National Polytechnique de Grenoble, 38 (France)

January 1984

SIGLECNRS RS 17660 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation par microscopie electronique en transmission de joints de grains d'oxyde NiO forme par oxydation

Marrouche, Abdelkhalek

January 1985

SIGLECNRS T 57676 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude du centre EL2 dans GaAs semi-isolant par photoextinction des images de transmission infra-rouge

Kang, Seong Jun

January 1990

SIGLEINIST T 75827 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude des distributions electroniques des semiconducteurs amorphes et cristallises GaAs et Ge_1_-_*Se_*

Guita, Sadreddine

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse microscopique a haute resolution laterale de surface de GaAs a divers stades de traitement

Erman, M.
Theeten, J.B.
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)
Laboratoires d'Electronique et de Physique Appliquee, 94 - Limeil-Brevannes (France)

January 1985

SIGLECNRS AR 11206 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse des circuits integres par microscopie electronique en transmission : controle de qualite, evaluation de la fiabilite

Duzellier, Sophie

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique en transmission de petits defauts dans les monocristaux de GaAs semi-isolants

Abstract

Extracted data

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