Etude de la face (110) de l'arseniure de gallium par microscopie a effet tunnel. Contribution a l'etude des defauts

Contribution a l'etude de la stabilite des defauts dans l'arseniure de gallium

Boddaert, Xavier

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des defauts profonds dans l'arseniure de gallium implante en oxygene et en oxygene et silicium, par spectroscopie capacitive

Guennouni, Zoheir

January 1991

INIST T 76854 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

EPVOM et caracterisation du Ga_1_-_xIn_x(As_y)Sb_1_-_y pour la photodetection au-dela de 2 micrometres. Etude des mecanismes de croissance du Ga_1_-_xIn_xSb/GaSb en vue de realiser un puits quantique

Kaoukab-Raji, Jaber

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82003 / INIST-CNRS ...

Etude de la gravure photochimique et photo-electrochimique de l'arseniure de gallium

Achard, Michel
Ecole Centrale de Lyon (ECL), 69 - Ecully (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81323 / INIST-CNRS -...

Cristallogenese de l'arseniure de gallium par la technique Czochralski sous basse pression. Contribution a l'etude de la formation des defauts dans le materiau non dope

Guilbert, Laurent

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79716 / INIST-CNRS -...

Fiabilite analytique des circuits integres sur arseniure de gallium

Crudo, Patrick

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82525 / INIST-CNRS -...

Etudes topographiques et spectroscopiques de particules metalliques submicroniques par microscopie tunnel

David, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82157 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium deforme

Azzaz, Mohamed
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80301 / INIST-CNRS - Inst...

Developpement de la microscopie tunnel a l'air et en milieu aqueux, recherche de substrats ; application a l'etude d'echantillons organiques

Berrehar, Jeanne
Garbarz, Jocelyne
Schott, Michel
Roussel, Joseph
Lacaze, Emmanuelle
Gauthier, Sebastien
Paris-7 Univ., 75 (France). Groupe de Physique des Solides de l'ENS
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14607 / INIST-CNRS - Insti...

Etude d'une distribution de porteurs hors d'equilibre dans l'arseniure de gallium par spectroscopie femtoseconde

Foing, Jean-Paul
Ecole Polytechnique, 91 - Palaiseau (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83353 / INIST-CNRS -...

Etude en microscopie par effet tunnel des premiers stades de croissance de l'interface Pb/Si(111) a temperature ambiante

Palmino, Frank

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84030 / INIST-CNRS ...

Etude de la transition cristal-amorphe induite par implantation ionique dans l'arseniure de gallium

Akmoum, Khemisti

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81822 / INIST-CNRS -...

Contribution de la microscopie electronique des echantillons vitrifies a l'etude structurale statique et dynamique des composants musculaires isoles

Menetret, Jean-Francois

January 1990

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78638 / INIST-CNRS - Inst...

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude et realisation de transistors bipolaires PNP a homojonction sur arsensiure de gallium par implantation ionique

Ferreira, Ana Suely

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81793 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de la stabilite des defauts dans l'arseniure de gallium

Boddaert, Xavier

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des defauts profonds dans l'arseniure de gallium implante en oxygene et en oxygene et silicium, par spectroscopie capacitive

Guennouni, Zoheir

January 1991

INIST T 76854 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

EPVOM et caracterisation du Ga_1_-_xIn_x(As_y)Sb_1_-_y pour la photodetection au-dela de 2 micrometres. Etude des mecanismes de croissance du Ga_1_-_xIn_xSb/GaSb en vue de realiser un puits quantique

Kaoukab-Raji, Jaber

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82003 / INIST-CNRS ...

Etude de la gravure photochimique et photo-electrochimique de l'arseniure de gallium

Achard, Michel
Ecole Centrale de Lyon (ECL), 69 - Ecully (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81323 / INIST-CNRS -...

Cristallogenese de l'arseniure de gallium par la technique Czochralski sous basse pression. Contribution a l'etude de la formation des defauts dans le materiau non dope

Guilbert, Laurent

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 79716 / INIST-CNRS -...

Fiabilite analytique des circuits integres sur arseniure de gallium

Crudo, Patrick

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 82525 / INIST-CNRS -...

Etudes topographiques et spectroscopiques de particules metalliques submicroniques par microscopie tunnel

David, Thierry

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82157 / INIST-CNRS ...

Etude par microscopie electronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium deforme

Azzaz, Mohamed
Institut National Polytechnique de Lorraine (INPL), 54 - Vandoeuvre-les-Nancy (France)

January 1991

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 80301 / INIST-CNRS - Inst...

Developpement de la microscopie tunnel a l'air et en milieu aqueux, recherche de substrats ; application a l'etude d'echantillons organiques

Berrehar, Jeanne
Garbarz, Jocelyne
Schott, Michel
Roussel, Joseph
Lacaze, Emmanuelle
Gauthier, Sebastien
Paris-7 Univ., 75 (France). Groupe de Physique des Solides de l'ENS
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1990

Available at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 14607 / INIST-CNRS - Insti...

Etude d'une distribution de porteurs hors d'equilibre dans l'arseniure de gallium par spectroscopie femtoseconde

Foing, Jean-Paul
Ecole Polytechnique, 91 - Palaiseau (France)

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 83353 / INIST-CNRS -...

Etude en microscopie par effet tunnel des premiers stades de croissance de l'interface Pb/Si(111) a temperature ambiante

Palmino, Frank

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84030 / INIST-CNRS ...

Etude de la transition cristal-amorphe induite par implantation ionique dans l'arseniure de gallium

Akmoum, Khemisti

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81822 / INIST-CNRS -...

Contribution de la microscopie electronique des echantillons vitrifies a l'etude structurale statique et dynamique des composants musculaires isoles

Menetret, Jean-Francois

January 1990

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 78638 / INIST-CNRS - Inst...

Etude par microscopie electronique en transmission des defauts induits par onde de choc dans le quartz

Goltrant, Olivier

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 84013 / INIST-CNRS ...

Etude et realisation de transistors bipolaires PNP a homojonction sur arsensiure de gallium par implantation ionique

Ferreira, Ana Suely

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : T 81793 / INIST-CNRS -...

Contribution a l'etude de la stabilite des defauts dans l'arseniure de gallium

Boddaert, Xavier

January 1989

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Contribution a l'etude des defauts profonds dans l'arseniure de gallium implante en oxygene et en oxygene et silicium, par spectroscopie capacitive

Guennouni, Zoheir

January 1991

INIST T 76854 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

EPVOM et caracterisation du Ga_1_-_xIn_x(As_y)Sb_1_-_y pour la photodetection au-dela de 2 micrometres. Etude des mecanismes de croissance du Ga_1_-_xIn_xSb/GaSb en vue de realiser un puits quantique

Kaoukab-Raji, Jaber

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82003 / INIST-CNRS ...

Etude de la face (110) de l'arseniure de gallium par microscopie a effet tunnel. Contribution a l'etude des defauts

Abstract

Extracted data

Etude de la face (110) de l'arseniure de gallium par microscopie a effet tunnel. Contribution a l'etude des defauts

Abstract

Extracted data

Related items

Related items