Caracterisation non destructive des revetements superficiels: application du formalisme Auger a la microanalyse par spectroscopie d'emission X

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?

Charrier, Guillaume
Ameglio, Thierry

January 2019

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?. Journée thématiqu...

Utilisation des analyses multidimensionnelles en spectroscopie de reflexion dans le proche infrarouge : application a la caracterisation de la qualite technologique du ble et de ses produits de mouture

Bertrand, Dominique

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectre d'emission X d'ions silicium par la methode faisceau-feuille

Mosnier, Jean-Paul

January 1986

SIGLECNRS T 59521 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Application de la spectrometrie a l'etude non destructive de defauts dans les cristaux: quartz, grenat, beryl

Daumet, Jerome

January 1990

SIGLEINIST T 74752 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse non destructive des objets en verre, par des methodes nucleaires : application a l'etude des estampilles et poids monetaires islamiques

Gratuze, Bernard

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie UV lointain : application a l'etude des stannanes

Lespes Courtois, Gaeetane

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse non destructive du cuivre et de ses alliages par activation a l'aide de neutrons rapides de cyclotron : application a la numismatique

Beauchesne, France

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation de la degradation microbienne de constituants parietaux par spectroscopie dans l'infrarouge proche et moyen

Bertin, Chantal

January 1989

INIST T 70642 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Evaluation non destructive d'acier chrome par dispersion de vitesse d'ondes de Rayleigh

Chenni, Bouzid

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectroscopie submillimetrique du difluoromethane : application a l'analyse du mecanisme laser

Martinache, Laurent

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse rigoureuse par la methode des elements finis des caracteristiques des resonateurs dielectriques. Application au filtrage microonde

Verdeyme, Serge

January 1989

SIGLEINIST T 70989;Non accessible / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et Technique...

Test de faisabilite d'une nouvelle methode spectrometrique (spectrometrie dynamique multicanale) Application au dosage des metaux par ablation laser et analyse du spectre d'emission

Da Silva, Edouard
Dilor, 59 - Lille (France)
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15164 / INIST-CNRS - ...

Contribution a l'effet de solvant : etude experimentale et theorique du comportement des intensites integrees en spectroscopie infrarouge

Humbert, Francois

January 1987

SIGLECNRS T 61168 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?

Charrier, Guillaume
Ameglio, Thierry

September 2019

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?. Journée thématiqu...

Spectroscopie DRASC a haute resolution dans les gaz : etude des formes de raies, application a CH4 et O2

Roussel, Gerard

January 1984

SIGLECNRS T 55925 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?

Charrier, Guillaume
Ameglio, Thierry

January 2019

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?. Journée thématiqu...

Utilisation des analyses multidimensionnelles en spectroscopie de reflexion dans le proche infrarouge : application a la caracterisation de la qualite technologique du ble et de ses produits de mouture

Bertrand, Dominique

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectre d'emission X d'ions silicium par la methode faisceau-feuille

Mosnier, Jean-Paul

January 1986

SIGLECNRS T 59521 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Application de la spectrometrie a l'etude non destructive de defauts dans les cristaux: quartz, grenat, beryl

Daumet, Jerome

January 1990

SIGLEINIST T 74752 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse non destructive des objets en verre, par des methodes nucleaires : application a l'etude des estampilles et poids monetaires islamiques

Gratuze, Bernard

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie UV lointain : application a l'etude des stannanes

Lespes Courtois, Gaeetane

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse non destructive du cuivre et de ses alliages par activation a l'aide de neutrons rapides de cyclotron : application a la numismatique

Beauchesne, France

January 1986

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation de la degradation microbienne de constituants parietaux par spectroscopie dans l'infrarouge proche et moyen

Bertin, Chantal

January 1989

INIST T 70642 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Evaluation non destructive d'acier chrome par dispersion de vitesse d'ondes de Rayleigh

Chenni, Bouzid

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectroscopie submillimetrique du difluoromethane : application a l'analyse du mecanisme laser

Martinache, Laurent

January 1987

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Analyse rigoureuse par la methode des elements finis des caracteristiques des resonateurs dielectriques. Application au filtrage microonde

Verdeyme, Serge

January 1989

SIGLEINIST T 70989;Non accessible / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et Technique...

Test de faisabilite d'une nouvelle methode spectrometrique (spectrometrie dynamique multicanale) Application au dosage des metaux par ablation laser et analyse du spectre d'emission

Da Silva, Edouard
Dilor, 59 - Lille (France)
Ministere de la Recherche et de l'Espace (MRE), 75 - Paris (France)

January 1992

SIGLEAvailable at INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : AR 15164 / INIST-CNRS - ...

Contribution a l'effet de solvant : etude experimentale et theorique du comportement des intensites integrees en spectroscopie infrarouge

Humbert, Francois

January 1987

SIGLECNRS T 61168 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?

Charrier, Guillaume
Ameglio, Thierry

September 2019

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?. Journée thématiqu...

Spectroscopie DRASC a haute resolution dans les gaz : etude des formes de raies, application a CH4 et O2

Roussel, Gerard

January 1984

SIGLECNRS T 55925 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?

Charrier, Guillaume
Ameglio, Thierry

January 2019

Non-destructive measurements for destructive experiments: how to assess damages ?. Journée thématiqu...

Utilisation des analyses multidimensionnelles en spectroscopie de reflexion dans le proche infrarouge : application a la caracterisation de la qualite technologique du ble et de ses produits de mouture

Bertrand, Dominique

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Spectre d'emission X d'ions silicium par la methode faisceau-feuille

Mosnier, Jean-Paul

January 1986

SIGLECNRS T 59521 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation non destructive des revetements superficiels: application du formalisme Auger a la microanalyse par spectroscopie d'emission X

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