EPVOM de GaAs : analyse in-situ de la phase gazeuse par spectrometrie Raman

Assistance informatique a la determination des structures a partir des donnees fournies par la spectrometrie Raman

Vergoten, Gerard
Institut National de la Sante et de la Recherche Medicale (INSERM), 59 - Lille (France). Technologie Biomedicale : Methodologies Analytiques, Mesures, Instrumentation
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

CNRS AR 12744 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par spectroscopie Raman de conducteurs organiques unidimensionnels, (TMTSF) 2X

Breitenstein, Jacques

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Developpements experimentaux et theoriques en spectrometries infrarouge et Raman. Application a l'etude des silices divisees

Humbert, Bernard

January 1991

SIGLEINIST T 76766 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectrometrie Raman des contraintes, dopage et defauts associes dans GaAs heteroepitaxie

Mlayah, Adnen

January 1991

SIGLEINIST T 76523 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un exemple d'etude de phase a desordre orientationnel par spectroscopie Raman : l'hexamethylethane

Gharbi, Hamza

January 1984

SIGLET 55013 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectrometrie Raman des films liquides tres minces entre deux parois solides

Yahiaoui, Bechir

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie Raman stimule a tres haute resolution. Application aux molecules toupies spheriques lourdes

Tabyaoui, Abdelmoumen

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82158 / INIST-CNRS - Ins...

Spectroscopie des etats d'interface du systeme metal (Al)/GaAs

Barret, C.
Massies, J
Delegation Generale a la Recherche Scientifique et Technique, Paris (France)

January 1981

Action concertee: ComposantsSIGLEAvailable from Centre de Documentation Scientifique et Technique, C...

Application de la spectrometrie Raman a l'etude de membranes industrielles

El Boukari, Mohammed

January 1989

SIGLEINIST T 71329 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie comparee de Raman resonnant et d'excitation des etats de surface et de volume d'un cristal organique avec structure feuilletee : experimentation, theorie

David, Lionel

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude du spectre Raman de BaTiO_3 dans les differentes phases. Mecanisme des transitions de phase et origine des proprietes electro-optiques

Laabidi, Khalid

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80949 / INIST-CNRS ...

Spectroscopie de photoluminescence locale dans les semiconducteurs massifs (Si, InP) et les puits quantiques (GaAs/GaAlAs)

Valloggia Bousquet, Sylvie
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1988

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Proprietes electroniques et optiques des superreseaux GaAs/GaAlAs de petites periodes

Chomette, Andre

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation d'une phase gazeuse en cours de reaction par effet Raman spontane

Huguet, Patrice

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82043 / INIST-CNRS ...

Raman scattering study of a GaAsN epitaxial layer

Yu, G.Y.
Shen, Z.X.
Liu, L.
Sun, W.X.

December 2001

10.1016/S1369-8001(02)00022-7Materials Science in Semiconductor Processing46581-58

Assistance informatique a la determination des structures a partir des donnees fournies par la spectrometrie Raman

Vergoten, Gerard
Institut National de la Sante et de la Recherche Medicale (INSERM), 59 - Lille (France). Technologie Biomedicale : Methodologies Analytiques, Mesures, Instrumentation
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

CNRS AR 12744 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par spectroscopie Raman de conducteurs organiques unidimensionnels, (TMTSF) 2X

Breitenstein, Jacques

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Developpements experimentaux et theoriques en spectrometries infrarouge et Raman. Application a l'etude des silices divisees

Humbert, Bernard

January 1991

SIGLEINIST T 76766 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectrometrie Raman des contraintes, dopage et defauts associes dans GaAs heteroepitaxie

Mlayah, Adnen

January 1991

SIGLEINIST T 76523 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Un exemple d'etude de phase a desordre orientationnel par spectroscopie Raman : l'hexamethylethane

Gharbi, Hamza

January 1984

SIGLET 55013 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Etude par spectrometrie Raman des films liquides tres minces entre deux parois solides

Yahiaoui, Bechir

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie Raman stimule a tres haute resolution. Application aux molecules toupies spheriques lourdes

Tabyaoui, Abdelmoumen

January 1992

Available from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82158 / INIST-CNRS - Ins...

Spectroscopie des etats d'interface du systeme metal (Al)/GaAs

Barret, C.
Massies, J
Delegation Generale a la Recherche Scientifique et Technique, Paris (France)

January 1981

Action concertee: ComposantsSIGLEAvailable from Centre de Documentation Scientifique et Technique, C...

Application de la spectrometrie Raman a l'etude de membranes industrielles

El Boukari, Mohammed

January 1989

SIGLEINIST T 71329 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Spectroscopie comparee de Raman resonnant et d'excitation des etats de surface et de volume d'un cristal organique avec structure feuilletee : experimentation, theorie

David, Lionel

January 1988

CNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude du spectre Raman de BaTiO_3 dans les differentes phases. Mecanisme des transitions de phase et origine des proprietes electro-optiques

Laabidi, Khalid

January 1991

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 80949 / INIST-CNRS ...

Spectroscopie de photoluminescence locale dans les semiconducteurs massifs (Si, InP) et les puits quantiques (GaAs/GaAlAs)

Valloggia Bousquet, Sylvie
Institut National des Sciences Appliquees (INSA), 31 - Toulouse (France)

January 1988

SIGLECNRS TD Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Proprietes electroniques et optiques des superreseaux GaAs/GaAlAs de petites periodes

Chomette, Andre

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Caracterisation d'une phase gazeuse en cours de reaction par effet Raman spontane

Huguet, Patrice

January 1992

SIGLEAvailable from INIST (FR), Document Supply Service, under shelf-number : TD 82043 / INIST-CNRS ...

Raman scattering study of a GaAsN epitaxial layer

Yu, G.Y.
Shen, Z.X.
Liu, L.
Sun, W.X.

December 2001

10.1016/S1369-8001(02)00022-7Materials Science in Semiconductor Processing46581-58

Assistance informatique a la determination des structures a partir des donnees fournies par la spectrometrie Raman

Vergoten, Gerard
Institut National de la Sante et de la Recherche Medicale (INSERM), 59 - Lille (France). Technologie Biomedicale : Methodologies Analytiques, Mesures, Instrumentation
Fonds de la Recherche et de la Technologie (FRT), 75 - Paris (France)

CNRS AR 12744 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueSIGLEFRFranc

Etude par spectroscopie Raman de conducteurs organiques unidimensionnels, (TMTSF) 2X

Breitenstein, Jacques

January 1988

SIGLECNRS T Bordereau / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

Developpements experimentaux et theoriques en spectrometries infrarouge et Raman. Application a l'etude des silices divisees

Humbert, Bernard

January 1991

SIGLEINIST T 76766 / INIST-CNRS - Institut de l'Information Scientifique et TechniqueFRFranc

EPVOM de GaAs : analyse in-situ de la phase gazeuse par spectrometrie Raman

Abstract

Extracted data

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