JESSI AC 41 Technology assessment. Phase 1: 1st January - 31st December 1991 Final report

JESSI AC12. Analog Expert Design System. Phase III Final report

Fischer-Binder, J.O.
ANACAD Electrical Engineering Software GmbH, Ulm (Germany)

January 1996

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F97B344+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Technology Assessment: Anlass, Methode, Organisation

Boehret, C.
Speyer Hochschule fuer Verwaltungswissenschaften (Germany)

January 1983

Copy held by FIZ Karlsruhe; available from UB/TIB Hannover / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruh...

Analyse von Ansaetzen zukuenftiger Technologien. Teilaufgabe

Verein Deutscher Ingenieure (VDI), Duesseldorf (Germany). Technologiezentrum Physikalische Technologien (VDI-TZ-PT)
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1990

SIGLEAvailable from TIB Hannover: FR 7039+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

JESSI AC41 technology assessment. Phase 2 January 92 - December 94. Final report

Richter, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B1153+a+b / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technis...

JESSI AC41. Technology Assessment. Phase 2 Final report

Mack, W.
Jetter, D.
Lindenkreuz, S.
Kiesewetter, G.
Claus, P.
Reiner, W.
Bosch (R.) GmbH, Reutlingen (Germany)

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B1611+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

JESSI AC41 Technologieeinschaetzung Phase 1: Oktober 1990 - Dezember 1991. Abschlussbericht

Richter, H.
Hermann, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

Available from TIB Hannover: FR 6994+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische...

Technology Assessment JESSI AC41 Schlussbericht

Eckert, R.
Wytrwa, A.
Brenner, T.
Fritz, H.
Graudszus, W.
Kelting, K.
Novotny, P.
Schmaus, J.
Solleder, T.
Wiegner, W.
Wilberscheid, G.
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)
Standard Elektrik Lorenz A.G., Stuttgart (Germany). Forschungszentrum

January 1992

With 39 figs., 5 tabs.SIGLEAvailable from TIB Hannover: FR 7022+a / FIZ - Fachinformationszzentrum K...

JESSI AC41B Verbundprojekt 'Technology Assessment' Schlussbericht

Zapf, H.
Siemens A.G., Muenchen (Germany). Bereich Halbleiter
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

Available from TIB Hannover: FR 6318+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische...

Technology Assessment. Phase 3 Final report

Richter, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik

January 1997

Available from TIB Hannover: F97B1342+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Technology Assessment. Phase 3 Final report

Lemaitre, B.
Guggenmos, X.
Siemens A.G., Muenchen (Germany). Bereich Halbleiter

January 1997

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F98B75+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

Technology assessment. Phase 3 Final report

Jetter, D.
Kiesewetter, G.
Mack, W.
Reiner, W.
Ruebenacke, S.
Bosch (R.) GmbH, Reutlingen (Germany). Mikroelektronikzentrum

January 1997

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F97B1825+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Tech...

JESSI Europroject: design for testability (AC06) Final report

Philips Semiconductors, Hamburg (Germany). Roehren- und Halbleiterwerke

January 1993

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F93B899 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technis...

JESSI - Fakten zur Mikroelektronik

Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

SIGLEAvailable from TIB Hannover: RO 6006(1992,4) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB -...

JESSI-projekt AC-6: start-up-phase Application: test generation and design for testability. Final report

Grueter, O.
Siemens AG, Muenchen (Germany). Zentralabteilung Forschung und Entwicklung

January 1993

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F94B0121+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Tech...

Technischer Report JESSI SMI Project AE23. Jahresbericht 1996 Endbericht

Krumbein, F.
MAZet GmbH Thueringen, Erfurt (Germany)

January 1997

Available from TIB Hannover: DtF QN1(55,37) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

JESSI AC12. Analog Expert Design System. Phase III Final report

Fischer-Binder, J.O.
ANACAD Electrical Engineering Software GmbH, Ulm (Germany)

January 1996

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F97B344+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Technology Assessment: Anlass, Methode, Organisation

Boehret, C.
Speyer Hochschule fuer Verwaltungswissenschaften (Germany)

January 1983

Copy held by FIZ Karlsruhe; available from UB/TIB Hannover / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruh...

Analyse von Ansaetzen zukuenftiger Technologien. Teilaufgabe

Verein Deutscher Ingenieure (VDI), Duesseldorf (Germany). Technologiezentrum Physikalische Technologien (VDI-TZ-PT)
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1990

SIGLEAvailable from TIB Hannover: FR 7039+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

JESSI AC41 technology assessment. Phase 2 January 92 - December 94. Final report

Richter, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B1153+a+b / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technis...

JESSI AC41. Technology Assessment. Phase 2 Final report

Mack, W.
Jetter, D.
Lindenkreuz, S.
Kiesewetter, G.
Claus, P.
Reiner, W.
Bosch (R.) GmbH, Reutlingen (Germany)

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B1611+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

JESSI AC41 Technologieeinschaetzung Phase 1: Oktober 1990 - Dezember 1991. Abschlussbericht

Richter, H.
Hermann, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

Available from TIB Hannover: FR 6994+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische...

Technology Assessment JESSI AC41 Schlussbericht

Eckert, R.
Wytrwa, A.
Brenner, T.
Fritz, H.
Graudszus, W.
Kelting, K.
Novotny, P.
Schmaus, J.
Solleder, T.
Wiegner, W.
Wilberscheid, G.
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)
Standard Elektrik Lorenz A.G., Stuttgart (Germany). Forschungszentrum

January 1992

With 39 figs., 5 tabs.SIGLEAvailable from TIB Hannover: FR 7022+a / FIZ - Fachinformationszzentrum K...

JESSI AC41B Verbundprojekt 'Technology Assessment' Schlussbericht

Zapf, H.
Siemens A.G., Muenchen (Germany). Bereich Halbleiter
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

Available from TIB Hannover: FR 6318+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische...

Technology Assessment. Phase 3 Final report

Richter, H.
Stuttgart Univ. (Germany). Inst. fuer Mikroelektronik

January 1997

Available from TIB Hannover: F97B1342+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Technology Assessment. Phase 3 Final report

Lemaitre, B.
Guggenmos, X.
Siemens A.G., Muenchen (Germany). Bereich Halbleiter

January 1997

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F98B75+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

Technology assessment. Phase 3 Final report

Jetter, D.
Kiesewetter, G.
Mack, W.
Reiner, W.
Ruebenacke, S.
Bosch (R.) GmbH, Reutlingen (Germany). Mikroelektronikzentrum

January 1997

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F97B1825+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Tech...

JESSI Europroject: design for testability (AC06) Final report

Philips Semiconductors, Hamburg (Germany). Roehren- und Halbleiterwerke

January 1993

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F93B899 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technis...

JESSI - Fakten zur Mikroelektronik

Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1992

SIGLEAvailable from TIB Hannover: RO 6006(1992,4) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB -...

JESSI-projekt AC-6: start-up-phase Application: test generation and design for testability. Final report

Grueter, O.
Siemens AG, Muenchen (Germany). Zentralabteilung Forschung und Entwicklung

January 1993

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F94B0121+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Tech...

Technischer Report JESSI SMI Project AE23. Jahresbericht 1996 Endbericht

Krumbein, F.
MAZet GmbH Thueringen, Erfurt (Germany)

January 1997

Available from TIB Hannover: DtF QN1(55,37) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

JESSI AC12. Analog Expert Design System. Phase III Final report

Fischer-Binder, J.O.
ANACAD Electrical Engineering Software GmbH, Ulm (Germany)

January 1996

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F97B344+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Technology Assessment: Anlass, Methode, Organisation

Boehret, C.
Speyer Hochschule fuer Verwaltungswissenschaften (Germany)

January 1983

Copy held by FIZ Karlsruhe; available from UB/TIB Hannover / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruh...

Analyse von Ansaetzen zukuenftiger Technologien. Teilaufgabe

Verein Deutscher Ingenieure (VDI), Duesseldorf (Germany). Technologiezentrum Physikalische Technologien (VDI-TZ-PT)
Bundesministerium fuer Forschung und Technologie (BMFT), Bonn (Germany)

January 1990

SIGLEAvailable from TIB Hannover: FR 7039+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

JESSI AC 41 Technology assessment. Phase 1: 1st January - 31st December 1991 Final report

Abstract

Extracted data

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