Kalibriernormale zur Ermittlung der Tastspitzenform fuer Raster-Kraft-Mikroskope und -Profilometer. Mikroschaefte fuer die Charakterisierung der Tastspitzenform von Rasterkraftsonden Abschlussbericht

Erschliessung der Mikrowellentechnik fuer die Mikrosystemtechnik. Teilvorhaben: Entwicklung von Mikrowellen- und ZF-Komponenten Schlussbericht

Zimmermann, B.
Karlsruhe Univ. (T.H.) (Germany). Inst. fuer Hoechstfrequenztechnik und Elektronik

January 1994

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F95B350+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Untersuchungen von Mikrostruktur-Wirkungsbeziehungen hautpflegender und selbstklebender Produkte mittels Kryo-Rasterkraftmikroskopie und quantitativer Elastizitaetsmikroskopie Abschlussbericht

Hintze, U.
Beiersdorf AG, Hamburg (Germany)
Hamburg Univ. (Germany). Inst. fuer Angewandte Physik

January 1999

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F02B1814 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

Rechnergestuetzte Kalibrierung von Profilziehwerkzeugen Abschlussbericht

Kopp, R.
Steuff, W.
Technische Hochschule Aachen (Germany). Lehrstuhl und Inst. fuer Bildsame Formgebung

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B538 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische I...

Kalibriernormale zur Ermittlung der Tastspitzenform fuer Raster -Kraft-Mikroskope und -Profilometer. Teilvorhaben: Kantenhinterschnittene Kalibriernormale zur In-situ-Bestimmung von Tastspitzenformen Schlussbericht

Morgenroth, W.
Huebner U.
Mirande, W.
Bodermann, B.
Sulzbach, T.
Brendel, B.
Meyer, H.G.
Leica Microsystems Lithography GmbH, Jena (Germany)
NanoWorld Services GmbH, Erlangen (Germany)
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (Germany)
Institut fuer Physikalische Hochtechnologie e.V., Jena (Germany). Bereich Magnetik/Kryoelektronik

January 2002

Available from TIB Hannover: F03B212 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische I...

Aufbau und Charakterisierung eines hochaufloesenden rasterelektrochemischen Mikroskops SECM. Teilvorhaben: Aufbau von Nanoden fuer das rasterelektrochemische Mikroskop Abschlussbericht

Thomas Recording GmbH, Giessen (Germany)

January 2002

SIGLEAvailable from TIB Hannover: DtF QN1(96,36) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - ...

Rastersondentechniken. Einsatz magnetischer Rastersondenmikroskopie in der praeventiven Qualitaetssicherung Abschlussbericht

Fries, T.
Fries Research und Technology GmbH, Bergisch Gladbach (Germany)

January 1999

Available from TIB Hannover: F99B1355+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Bestimmung des Kristallinitaetsprofils an einfachen Probekoerpern mittels Infrarot-Mikrospektroskopie. Teilaufgabe: Vorausberechnung der praezisen Werkzeugkontur beim Spritzgiessen Abschlussbericht

Gebing, M.
Bosch (R.) GmbH, Waiblingen (Germany). Zentralbereich Forschung und Vorausentwicklung

January 2001

Available from TIB Hannover: F01B1111+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie an duennen Schichten von Hoch-T_c Supraleitern Abschlussbericht

Gross, R.
Tuebingen Univ. (Germany). Lehrstuhl fuer Experimentalphysik 2

January 1994

SIGLEAvailable from TIB Hannover: D.Dt.F.QN1(17,28) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB...

Kombination eines Rastertunnel- und Kraftmikroskopes mit einem Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung kleinster Duennfilmstrukturen

Anders, M.
Forschungszentrum Juelich G.m.b.H. (KFA) (Germany). Inst. fuer Schicht- und Ionentechnik

January 1990

SIGLEAvailable from TIB Hannover: RA 831(2405) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Te...

Eutektische Erstarrung unter Mikrogravitation Abschlussbericht

Tensi, H.M.
Mack, T.
Technische Univ. Muenchen (Germany). Inst. fuer Werkstoffe und Verarbeitung

January 1995

Available from TIB Hannover: F96B2035+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Stroemungsmechanik unter Mikrogravitation Endbericht

Berg, C.
Dreyer, M.
Rosendahl, U.
Rath, H.
Ohlhoff, A.
Michaelis, M.
Leypoldt, J.
Kuhlmann, H.
Bremen Univ. (Germany). Zentrum fuer Angewandte Raumfahrttechnologie und Mikrogravitation (ZARM)

January 2002

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F02B1142 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

MIKRODOS - Elektronisch geregelte Mikrodosierung von Fluessigkeiten Abschlussbericht

Huhn, R.
Eppendorf Instrumente GmbH, Hamburg (Germany)

January 2002

Available from TIB Hannover: F04B138 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische I...

Untersuchungen von Mikrostruktur-Wirkungsbeziehungen hautpflegender und selbstklebender Produkte mittels Kryo-Rasterkraftmikroskopie und quantitativer Elastizitaetsmikroskopie Abschlussbericht

Hintze, U.
Beiersdorf AG, Hamburg (Germany)
Hamburg Univ. (Germany). Inst. fuer Angewandte Physik

January 2003

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F04B989 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technis...

Darstellung und Bewertung von mesoskaligen Stickstoffmodellen Studie fuer den Forschungsverbund Elbe-Oekologie

Starck, H.G.
Goebel, B.
Reiche, E.W.
Widmoser, P. (Kiel Univ. (Germany). Oekologie-Zentrum)
Bundesanstalt fuer Gewaesserkunde (BfG), Berlin (Germany). Projektgruppe Elbe-Oekologie

January 1997

SIGLEAvailable from TIB Hannover: RS 1591(3)+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Te...

Entwicklung von Kalibrier- und Testverfahren fuer UV-Spektroradiometer Abschlussbericht

Stock, K.D.
Wittchen, T.
Winter, S.
Metzdorf, J.
Moeller, W.
Liegmann, K.
Nawo, B.
Pawlak, M.
Raatz, K.H.
Sperfeld, P.
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin (Germany)
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (Germany)

January 2001

Available from TIB Hannover: F02B25 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische In...

Erschliessung der Mikrowellentechnik fuer die Mikrosystemtechnik. Teilvorhaben: Entwicklung von Mikrowellen- und ZF-Komponenten Schlussbericht

Zimmermann, B.
Karlsruhe Univ. (T.H.) (Germany). Inst. fuer Hoechstfrequenztechnik und Elektronik

January 1994

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F95B350+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Untersuchungen von Mikrostruktur-Wirkungsbeziehungen hautpflegender und selbstklebender Produkte mittels Kryo-Rasterkraftmikroskopie und quantitativer Elastizitaetsmikroskopie Abschlussbericht

Hintze, U.
Beiersdorf AG, Hamburg (Germany)
Hamburg Univ. (Germany). Inst. fuer Angewandte Physik

January 1999

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F02B1814 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

Rechnergestuetzte Kalibrierung von Profilziehwerkzeugen Abschlussbericht

Kopp, R.
Steuff, W.
Technische Hochschule Aachen (Germany). Lehrstuhl und Inst. fuer Bildsame Formgebung

January 1995

Available from TIB Hannover: F95B538 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische I...

Kalibriernormale zur Ermittlung der Tastspitzenform fuer Raster -Kraft-Mikroskope und -Profilometer. Teilvorhaben: Kantenhinterschnittene Kalibriernormale zur In-situ-Bestimmung von Tastspitzenformen Schlussbericht

Morgenroth, W.
Huebner U.
Mirande, W.
Bodermann, B.
Sulzbach, T.
Brendel, B.
Meyer, H.G.
Leica Microsystems Lithography GmbH, Jena (Germany)
NanoWorld Services GmbH, Erlangen (Germany)
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (Germany)
Institut fuer Physikalische Hochtechnologie e.V., Jena (Germany). Bereich Magnetik/Kryoelektronik

January 2002

Available from TIB Hannover: F03B212 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische I...

Aufbau und Charakterisierung eines hochaufloesenden rasterelektrochemischen Mikroskops SECM. Teilvorhaben: Aufbau von Nanoden fuer das rasterelektrochemische Mikroskop Abschlussbericht

Thomas Recording GmbH, Giessen (Germany)

January 2002

SIGLEAvailable from TIB Hannover: DtF QN1(96,36) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - ...

Rastersondentechniken. Einsatz magnetischer Rastersondenmikroskopie in der praeventiven Qualitaetssicherung Abschlussbericht

Fries, T.
Fries Research und Technology GmbH, Bergisch Gladbach (Germany)

January 1999

Available from TIB Hannover: F99B1355+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Bestimmung des Kristallinitaetsprofils an einfachen Probekoerpern mittels Infrarot-Mikrospektroskopie. Teilaufgabe: Vorausberechnung der praezisen Werkzeugkontur beim Spritzgiessen Abschlussbericht

Gebing, M.
Bosch (R.) GmbH, Waiblingen (Germany). Zentralbereich Forschung und Vorausentwicklung

January 2001

Available from TIB Hannover: F01B1111+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie an duennen Schichten von Hoch-T_c Supraleitern Abschlussbericht

Gross, R.
Tuebingen Univ. (Germany). Lehrstuhl fuer Experimentalphysik 2

January 1994

SIGLEAvailable from TIB Hannover: D.Dt.F.QN1(17,28) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB...

Kombination eines Rastertunnel- und Kraftmikroskopes mit einem Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung kleinster Duennfilmstrukturen

Anders, M.
Forschungszentrum Juelich G.m.b.H. (KFA) (Germany). Inst. fuer Schicht- und Ionentechnik

January 1990

SIGLEAvailable from TIB Hannover: RA 831(2405) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Te...

Eutektische Erstarrung unter Mikrogravitation Abschlussbericht

Tensi, H.M.
Mack, T.
Technische Univ. Muenchen (Germany). Inst. fuer Werkstoffe und Verarbeitung

January 1995

Available from TIB Hannover: F96B2035+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technisch...

Stroemungsmechanik unter Mikrogravitation Endbericht

Berg, C.
Dreyer, M.
Rosendahl, U.
Rath, H.
Ohlhoff, A.
Michaelis, M.
Leypoldt, J.
Kuhlmann, H.
Bremen Univ. (Germany). Zentrum fuer Angewandte Raumfahrttechnologie und Mikrogravitation (ZARM)

January 2002

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MIKRODOS - Elektronisch geregelte Mikrodosierung von Fluessigkeiten Abschlussbericht

Huhn, R.
Eppendorf Instrumente GmbH, Hamburg (Germany)

January 2002

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Untersuchungen von Mikrostruktur-Wirkungsbeziehungen hautpflegender und selbstklebender Produkte mittels Kryo-Rasterkraftmikroskopie und quantitativer Elastizitaetsmikroskopie Abschlussbericht

Hintze, U.
Beiersdorf AG, Hamburg (Germany)
Hamburg Univ. (Germany). Inst. fuer Angewandte Physik

January 2003

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Darstellung und Bewertung von mesoskaligen Stickstoffmodellen Studie fuer den Forschungsverbund Elbe-Oekologie

Starck, H.G.
Goebel, B.
Reiche, E.W.
Widmoser, P. (Kiel Univ. (Germany). Oekologie-Zentrum)
Bundesanstalt fuer Gewaesserkunde (BfG), Berlin (Germany). Projektgruppe Elbe-Oekologie

January 1997

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Entwicklung von Kalibrier- und Testverfahren fuer UV-Spektroradiometer Abschlussbericht

Stock, K.D.
Wittchen, T.
Winter, S.
Metzdorf, J.
Moeller, W.
Liegmann, K.
Nawo, B.
Pawlak, M.
Raatz, K.H.
Sperfeld, P.
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin (Germany)
Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (Germany)

January 2001

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Erschliessung der Mikrowellentechnik fuer die Mikrosystemtechnik. Teilvorhaben: Entwicklung von Mikrowellen- und ZF-Komponenten Schlussbericht

Zimmermann, B.
Karlsruhe Univ. (T.H.) (Germany). Inst. fuer Hoechstfrequenztechnik und Elektronik

January 1994

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F95B350+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techn...

Untersuchungen von Mikrostruktur-Wirkungsbeziehungen hautpflegender und selbstklebender Produkte mittels Kryo-Rasterkraftmikroskopie und quantitativer Elastizitaetsmikroskopie Abschlussbericht

Hintze, U.
Beiersdorf AG, Hamburg (Germany)
Hamburg Univ. (Germany). Inst. fuer Angewandte Physik

January 1999

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F02B1814 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Techni...

Rechnergestuetzte Kalibrierung von Profilziehwerkzeugen Abschlussbericht

Kopp, R.
Steuff, W.
Technische Hochschule Aachen (Germany). Lehrstuhl und Inst. fuer Bildsame Formgebung

January 1995

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Kalibriernormale zur Ermittlung der Tastspitzenform fuer Raster-Kraft-Mikroskope und -Profilometer. Mikroschaefte fuer die Charakterisierung der Tastspitzenform von Rasterkraftsonden Abschlussbericht

Abstract

Extracted data

Kalibriernormale zur Ermittlung der Tastspitzenform fuer Raster-Kraft-Mikroskope und -Profilometer. Mikroschaefte fuer die Charakterisierung der Tastspitzenform von Rasterkraftsonden Abschlussbericht

Abstract

Extracted data

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