Exploration de la réflectrométrie à faible cohérence pour l'analyse des composants et circuits photoniques

La complexité accrue des technologies d'intégration ont fortement motivé le développement d'un outil d'analyse permettant de sonder les propriétés, internes de composants individuels insérés dans un circuit complet. Dans un tel contexte, la réflectométrie à faible cohérence (OLCR) est une technique prometteuse puisque fournissant de très fines informations utiles aux concepteurs de circuits optiques. Cette thèse expose les analyses OLCR. entreprises sur de nombreux éléments clés des circuits WDM encore au stade de développement.1.'association judicieuse de reflectogrammes enregistrés (avec et sans courant) et de simulations (propagation guidée, matrices de transfert) ont conduit à la proposition d'un ensemble de méthodologies d'analyses originales.Leurs implémentations agrémentées d'accessoires spécifiques incorporés au banc de mesure (transmission.réflexion, contrôleur de polarisation, électrolummescence ...) ont fourni de nombreuses données, révélant alors le fort potentiel et la richesse de l'analyse par OLCR des circuits optiques. Ces données peuvent être de natures variées. Par exemple, une étude exhaustive des réflexions localisées a conduit à une analyse innovante des défauts (de croissances ou après dégradation) mais aussi à l'évaluation individuelle des performances des composants...AIX-MARSEILLE3-BU Sc.St Jérô (130552102) / SudocSudocFranceF