Ce mémoire présente les applications associées au microscope acoustique à pointe vibrante. Ces applications concernent d'une part la caractérisation de la rigidité locale des alliages à mémoire de forme, et d'autre part la mesure de la différence de potentiel de contact des matériaux. Le microscope acoustique à pointe vibrante qui est une technique de microscopie à champ proche, utilise un microlevier résonnant associé à une pointe et un transducteur piézoélectrique. La source acoustique sub-longueur d'onde constituée par la pointe interagit avec le milieu matériel à caractériser. La variation de la fréquence de résonance du micro-levier est détectée à travers l'impédance électrique du transducteur piézoélectrique, et permet de quantifier l...
La microscopie à force atomique (AFM) est un outil de caractérisation d’échantillons tant organiques...
La combinaison de plusieurs procédés d’imagerie et de mesure permet d’obtenir des ensembles de donné...
La microscopie à force atomique est une technique d’analyse des surfaces récente et très prometteuse...
La microscopie acoustique permet de localiser à la surface ou à l’intérieur d’un matériau des différ...
Voulant se doter des outils les plus récents et les plus performant pour étudier la réactivité élect...
Dans le cadre de l'étude des phénomènes de transfert de chaleur, nous désirons répondre aux probléma...
Colloque avec actes et comité de lecture. Internationale.International audienceLe microscope acousti...
L étude du contact électrique quasi statique à plusieurs échelles permet de comprendre celui des mic...
Dans une première partie de ce travail, nous avons développé de nouveaux outils pour la micromanipul...
Les microscopes champ proche micro-ondes sont des instruments émergents pour la caractérisation de m...
Les scanners optiques sont très utilisés dans des applications telles que l'affichage, la microscopi...
International audienceDepuis plus de 30 ans, la Microscopie à Force Atomique (AFM) a démontré sa cap...
La microscopie champ proche micro-onde, qui fait partie de la famille des microscopies à sonde local...
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) reposent sur la génération ou/et la détection de déformat...
Dans le microscope électronique à balayage, l'objet est exploré séquentielle-ment, ligne après ligne...
La microscopie à force atomique (AFM) est un outil de caractérisation d’échantillons tant organiques...
La combinaison de plusieurs procédés d’imagerie et de mesure permet d’obtenir des ensembles de donné...
La microscopie à force atomique est une technique d’analyse des surfaces récente et très prometteuse...
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