Impact du bruit substrat sur les oscillateurs contrôlés en tension à 4.5 GHz, intégrés en technologie BiCMOS 0.35 m

Les besoins des entreprises, comme ceux du particulier, concernent les nouveaux services associés en une incessante augmentation de l'autonomie. Du point de vue système, la Qualité de Service (QoS) s'exprime alors par des débits de plus en plus élevés et des taux d'erreurs binaires faibles. Du point de vue architecture circuit & technologie, les terminaux mobiles intègrent de plus en plus de fonctions différentes et diversifiées, ce qui implique le développement des systèmes sur puce (SoC) où blocs analogiques, radiofréquences, et numériques sont au maximum intégrés et miniaturisés sur un même substrat. C'est dans ce cadre que ce travail de recherche s'inscrit. Le travail présenté dans ce mémoire est orienté sur la partie radiofréquence la plus sensible d'un terminal mobile, qu'est la synthèse de fréquence. Nous pouvons rappeler en effet que la pureté des signaux RF gouverne la sensibilité des récepteurs via le bruit de phase ou de fréquence de toute source micro-ondes. Il apparaît donc indispensable de focaliser les travaux de recherche sur cet objet, du point vue de sa conception, de son optimisation, de son comportement et de sa sensibilité en présence de parties digitales. L'étude se décompose en quatre parties portant sur : l'analyse du bruit substrat dans les circuits mixtes réalisés sur silicium résistif et l'impact de ce bruit sur des circuits analogiques RF, la métrologie du bruit de phase des oscillateurs, la conception et la caractérisation des VCOs monolithiques, la caractérisation et la modélisation de l'impact du bruit substrat sur le bruit de phase d'un oscillateur.The work presented in this memory is directed towards the most significant part of a radiofrequency mobile thermal, which is the synthesis of frequency. We can recall indeed that the purity of RF signals controls the sensitivity of the receivers via the phase or frequency noise of any microwave source. It thus appears essential to focus the research tasks on this object, point seen of its design, of its optimisation, of its behaviour and its sensitivity in the presence of digital parts. The study breaks up into four parts relating to: analysis of the substrate noise in mixed signal circuits carried out on resistive silicon and the impact of this noise on RF circuits, the metrology of the oscillator phase noise, the design and the characterization of monolithic VCOS, the characterization and the modelling of substrate noise impact on oscillator phase noise.VILLEURBANNE-DOC'INSA LYON (692662301) / SudocSudocFranceF