Nous avons développé un microscope versatile combinant microscopie de force (AFM) et microscopie à effet tunnel (STM) à très basse température. Ce microscope permet d étudier la densité locale d états électroniques (LDOS) sur des nanocircuits supraconducteurs polarisables en courant. La sonde du microscope est basée sur un diapason en quartz qui permet une détection entièrement électrique des interactions pointe-surface en mode AFM et qui hors résonance propose la rigidité nécessaire à la stabilité de la jonction tunnel en mode STM. Le diapason est bien adapté à un environnement cryogénique, dissipant une énergie inférieure à 1 nW. Notre microscope atteint en mode AFM la résolution atomique selon l axe vertical et autorise en mode STM des j...
Travaux de Recherche de 2005 à 2012.The development of the Scanning Tunnelling Microscope (STM), and...
CETTE THESE AVAIT COMME OBJECTIF PRINCIPAL LA COMBINAISON EN TEMPS REEL ET lN-SITU DE DEUX TYPES DE ...
Cette thèse présente une étude des propriétés électroniques des objets nano sur des surfaces métalli...
We have developed a combined microscope Atomic Force Microscope (AFM) / Scanning Tunneling Microscop...
Nous décrivons des jonctions hybrides constituées d'un métal supraconducteur et d'un métal normal (j...
Nous utilisons un microscope combinant microscopie à force atomique (AFM) et microscopie à effet tun...
We describe proximity effects in hybrid junctions made of a superconductor and a normal metal (N-S j...
We describe proximity effects in hybrid junctions made of a superconductor and a normal metal (N-S j...
La physique mésoscopique est actuellement dominée par des mesures de transport permettant d'extraire...
We use a microscope combining atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) ...
We use a microscope combining atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) ...
Travaux de Recherche de 2005 à 2012.The development of the Scanning Tunnelling Microscope (STM), and...
Travaux de Recherche de 2005 à 2012.The development of the Scanning Tunnelling Microscope (STM), and...
Travaux de Recherche de 2005 à 2012.The development of the Scanning Tunnelling Microscope (STM), and...
4 pagesInternational audienceWe demonstrate the combination of scanning force microscopy and scannin...
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CETTE THESE AVAIT COMME OBJECTIF PRINCIPAL LA COMBINAISON EN TEMPS REEL ET lN-SITU DE DEUX TYPES DE ...
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We have developed a combined microscope Atomic Force Microscope (AFM) / Scanning Tunneling Microscop...
Nous décrivons des jonctions hybrides constituées d'un métal supraconducteur et d'un métal normal (j...
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We describe proximity effects in hybrid junctions made of a superconductor and a normal metal (N-S j...
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We use a microscope combining atomic force microscopy (AFM) and scanning tunneling microscopy (STM) ...
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Travaux de Recherche de 2005 à 2012.The development of the Scanning Tunnelling Microscope (STM), and...
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