Ce travail porte sur le développement des techniques de caractérisation en microscopie électronique à balayage à pression contrôlée. Il s'agit d'une part de mettre au point la tomographie électronique, en utilisant le mode d'imagerie STEM-in-SEM, à l'échelle mésoscopique (non ou mal couverte par les techniques existantes de tomographie). Ce développement devra permettre une caractérisation tridimensionnelle d'un volume plus important que proposé par la tomographie électronique en TEM. D'autre part, les réaliser des essais de traction in situ afin d'examiner les matériaux à différentes étapes de vie : l'état initial de la structure, le comportement dynamique sous sollicitation et son état après l'endommagement. Grâce à la présence de gaz au ...
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) reposent sur la génération ou/et la détection de déformat...
Dans cette thèse, différentes techniques de microscopie électronique à transmission et à balayage (...
La microscopie X par projection peut être d'un grand intérêt dans le domaine de la biologie. Un micr...
Ce travail porte sur le développement des techniques de caractérisation en microscopie électronique ...
Pas de résumé disponible.Ce travail a vise dans un premier temps au developpement d'une technique de...
Avec l’avancée des technologies de la microélectronique, l’architecture des composants électroniques...
Le travail présenté dans ce mémoire concerne le développement de techniques de mesures dans le volum...
Voulant se doter des outils les plus récents et les plus performant pour étudier la réactivité élect...
The principle of transmission electron microscopy is summarized. Preparation methods specially used ...
The research group Mechanics of Materials and Structures at Ghent University in Belgium is doing res...
For every project or application, it is important to select a material that exhibits the desired mec...
cited By 13International audienceThis paper presents the development and the application of a new el...
For every project or application, it is important to select a material that exhibits the desired mec...
We report a novel material testing system (MTS) that uses hierarchical designs for in-situ mechanica...
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) reposent sur la génération ou/et la détection de déformat...
Dans cette thèse, différentes techniques de microscopie électronique à transmission et à balayage (...
La microscopie X par projection peut être d'un grand intérêt dans le domaine de la biologie. Un micr...
Ce travail porte sur le développement des techniques de caractérisation en microscopie électronique ...
Pas de résumé disponible.Ce travail a vise dans un premier temps au developpement d'une technique de...
Avec l’avancée des technologies de la microélectronique, l’architecture des composants électroniques...
Le travail présenté dans ce mémoire concerne le développement de techniques de mesures dans le volum...
Voulant se doter des outils les plus récents et les plus performant pour étudier la réactivité élect...
The principle of transmission electron microscopy is summarized. Preparation methods specially used ...
The research group Mechanics of Materials and Structures at Ghent University in Belgium is doing res...
For every project or application, it is important to select a material that exhibits the desired mec...
cited By 13International audienceThis paper presents the development and the application of a new el...
For every project or application, it is important to select a material that exhibits the desired mec...
We report a novel material testing system (MTS) that uses hierarchical designs for in-situ mechanica...
Les microsystèmes électromécaniques (MEMS) reposent sur la génération ou/et la détection de déformat...
Dans cette thèse, différentes techniques de microscopie électronique à transmission et à balayage (...
La microscopie X par projection peut être d'un grand intérêt dans le domaine de la biologie. Un micr...