Flash memory testing methods analysis

Рассматриваются вопросы построения современной флэш-памяти и анализируются модели неисправностей характерные для данного типа запоминающих устройств. Показывается эффективность применения маршевых тестов запоминающих устройств для обнаружения неисправностей флэш-памяти. Приводится оценка покрывающей способности маршевых тестов.The problems of design and reliability of modern flash-memory are discussed in this paper. The architectures of two types of flash-memory namely the NOR- and NAND-architectures are de- scribed and the specific flash-memory faults and tests for their detection are discussed. The march-like tests, which provide the high cover possibility, are shown to be effective tests for detection specific flash-memory faults