The electronic technology devices reliability forecasting by the instrumentality of the mathematic model of functional parameters degradation

Решалась задача прогнозирования параметрической надежности изделий электронной техники с помощью математической модели деградации функционального параметра. Предлагается получать модель в виде условной плотности распределения рассматриваемого параметра. Это позволяет применить метод группового прогнозирования. The problem of forecasting of parametrical reliability of products of electronic techniques by means of mathematical model of degradation of functional parameter was solved. It is offered to receive model in the form of conditional density of distribution of the considered parameter. It has allowed to apply a method of group forecasting