Add to ORKGLSIのソフトエラーに対する耐性の低下が問題となっている．ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計ではソフトエラー耐性評価手法が必要となるが，順序回路を対象とした評価手法は確立されていない．本稿では，マルコフモデルを用い順序回路のソフトエラー耐性を評価する手法を提案する．提案手法は，ソフトエラー発生後の状態遷移の振る舞いを解析し，エラーが外部出力に伝搬する確率を計算するものである．また，提案手法を用いいくつかのベンチマーク回路のソフトエラー耐性の評価を行う．A lowering of tolerance for the soft error of the LSI becomes the problem. Soft error tolerance evaluation method is necessary by the logic design that considered soft error tolerance, but the evaluation method for sequential circuits is not established. This paper proposes an evaluation method for soft error tolerance of sequential circuits. In our approach, we analyzes the behavior of the state transition after a soft error occurs, and calculates the probability that the error propagates to external outputs. In ...
Abstract—Scaling of CMOS technology into nanometric feature sizes has raised concerns for the reliab...
Technology and voltage scaling is making integrated circuits increasingly susceptible to failures ca...
In this paper, we address the issue of soft errors in random logic and develop solutions that provid...
「DAシンポジウム2010 : システムLSI設計技術とDA」2010年9月2日（木）～3日（金）にて発表された論文。ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計では，ソフトエラー耐性評価手法が必要となる...
ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計においてソフトエラー耐性評価手法が必要となる．順序回路における評価手法の1 つに厳密にソフトエラー発生後の振る舞いを解析する手法が提案されているが、実行時間の観...
「DAシンポジウム2010 : システムLSI設計技術とDA」2010年9月2日（木）～3日（金）にて発表された論文。LSI の信頼性に関わる問題としてソフトエラーがある．ソフトエラーとは放射線粒子が...
Due to reduction in device feature size and supply voltage, the sensitivity to radiation induced tra...
VLD2009-34中性子線などの影響で論理回路中の論理値に一時的な誤りが発生することをソフトエラーと呼ぶ．順序回路中において論理素子やフリップフロップで発生したソフトエラーが外部出力まで伝搬する確率...
IC technologies are approaching the ultimate limits of silicon in terms of channel width, power supp...
As semi-conductor manufacturing technology evolves; the single event transient problem becomes more ...
Digital circuits used in such domains as automotive, medical, space or nuclear need to satisfy high ...
We develop a simple model that computes the probability that a strike at the output of a gate has an...
Soft errors due to cosmic rays cause reliability problems during lifetime operation of digital syste...
In the last decade, the focus of fault-tolerance methods has tended towards circuit level modificati...
This paper presents an empirical investigation on the soft error sensitivity (SES) of microprocessor...
Abstract—Scaling of CMOS technology into nanometric feature sizes has raised concerns for the reliab...
Technology and voltage scaling is making integrated circuits increasingly susceptible to failures ca...
In this paper, we address the issue of soft errors in random logic and develop solutions that provid...
「DAシンポジウム2010 : システムLSI設計技術とDA」2010年9月2日（木）～3日（金）にて発表された論文。ソフトエラー耐性を考慮した論理回路の設計では，ソフトエラー耐性評価手法が必要となる...
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