Pienten taajuusmuuttajien tuotantotestauksen optimointi

Tuotantotestaus on tärkeä osa elektroniikkatuotteiden tuotantoa ja sen merkitys kasvaa nousevien laatuvaatimusten mukana. Tuotantotestaus voidaan toteuttaa monin eri tavoin, mutta käytetyistä menetelmistä riippumatta tavoitteena on havaita vialliset tuotteet ja estää niiden päätyminen asiakkaille. Tämän työn tavoitteena on kartoittaa keinoja, joiden avulla taajuusmuuttajien tuotantotestauksen nykyistä kestoaikaa olisi mahdollista lyhentää vaarantamatta korkeaa laatutasoa. Kirjallisuusosassa esitettiin yleisimpiä tuotantotestausmenetelmiä sekä niiden välisiä eroja pääpaino ollessa kiihdytetyissä testausmenetelmissä ja erityisesti tämän työn kannalta tärkeässä vanhennustestauksessa (burn-in). Eri menetelmien etujen ja haittojen lisäksi esitettiin testauksen tyypillisiä ongelmakohtia. Lopuksi tarkasteltiin tutkimuksia eri testausmenetelmien keskinäisestä tehokkuudesta. Kokeellisessa osassa analysoitiin nykyistä tuotantotestausmenetelmää tavoitteena löytää siihen parannus- ja tehostuskohteita. Erityisen mielenkiinnon kohteena on tuotantotestauksen vanhennustestausvaihe, joka on pisimpänä tuotantotestauksen osana kaikkein otollisin lyhentämiskohde. Kokeellinen osa jakautuu neljään osioon: tuotantotestausdatan analyysiin, lämpötilamittauksiin, kondensaattoreiden vanhennustarpeen tutkimiseen sekä eri testausvaiheiden välisten odotusaikojen määrittämiseen. Kaikkien olioiden tavoitteena on kartoittaa mahdollisuuksia lyhentää tuotantotestaukseen kuluvaa kokonaisaikaa. Tuotantotestausdatan analyysin perusteella voidaan sanoa, että testausajan lyhentämiseksi rasitustasoa täytyy nostaa. Ohjaamalla laitteen puhallinta testinaikaista lämpötilaa ja siten myös laitteen kokemaa rasitustasoa voidaan kohottaa. Elektrolyyttikondensaattorien vanhennustarpeen asettamat minimikestoaikavaatimukset ratkaistiin. Eri testivaiheiden väliset odotusajat havaittiin riittävän lyhyiksi, mutta testausvaiheiden yhdistäminen yhdessä testausasemassa tapahtuvaksi lyhentäisi testausaikaa