Soft X-ray spectroscopy of porous silicon and potassium halides

Das Studium der Wechselwirkung von elektromagnetischer Strahlung und Materie ist eine der prinzipiellen Methodiken der Experimentalphysik. In der Festkorperphysik ist die Beobachtung der elektronischen Struktur, die fast alle Eigenschaften der kondensierten Materie bestimmt, eines der Hauptanwendugsgebiete. Innerhalb dieser Diplomarbeit wurde die elektronische Struktur von porosem Silizium (pSi) und Kaliumhalogeniden (KH) mit "Weich-Rontgen-Spektroskopie"(SXS) untersucht: 1m Absorptionsprozef werden Rumpfelektronen in das Leitungsband (CB) angeregt, und im Emissionsprozef der Zerfall von Valenzbandelektronen (VB) in das Rumpfioch spektroskopiert. Dieerreichbare Auflosung hangt von derLebensdauerverbreiterung des Rumpfloches ab, daher.werden in SXS Rumpfzustaade mit Bindungsenergien unterhalb von 1000 eV genutzt. Somit erstreckt sich der in SXSgenutzte Strahlungsbereich grob von 10 eV (der niedrigsten Bindungsenergie von vnochatomaren" Rumpfzustiinden)bis 1000 eV. Zur Interpretation von SXS Spektren gibt es prinzipiell zwei verschiedene Ausgangspunkte, die mit dem Grad der Lokalisierung der VB Elektronen verkniipft sind. In Systemen mit breiten Bandera, d.h., wo die Wechselwirkungen der einzelnen Elektronen vernachlassigt werden kann, bestimmt die lokale partielle Zustandsdichte (LPDOS) die SXS Spektren, die in erster Naherung unabhanglg von der Anregungsenergie sind. Zu diesem Extrem gehoren die Untersuchungen der Bandstruktur von pSi