학위논문(석사)--서울대학교 대학원 :융합과학기술대학원 융합과학부(디지털정보융합전공),2020. 2. 서봉원.반도체 제조 공정에서 발생되는 데이터는 지속적으로 증가하고 있으며, 이를 활용하기 위한 연구들이 진행되고 있다. 제조 장비의 이상 발생을 나타내는 FDC 인터락은 엔지니어의 판단과 조치에 따라 실제 장비 이상인 진성과 기타 원인에 의해 발생하는 가성으로 분류되어 처리되고 있다. 진성으로 판단되는 경우 장비의 문제를 확인해야 하므로 생산의 효율이 저하되고 사람의 업무가 늘어나게 되지만 실제 장비의 이상이 발생한 경우에 생산되는 제품의 품질 위험을 줄일 수 있고, 가성으로 판단되는 경우 단순 조치나 확인으로 처리를 끝낼 수 있지만 실제 장비 이상 발생시 생산되는 제품의 품질이 위험에 노출되게 된다. 이러한 품질 위험을 줄이기 위하여 장비의 정상 여부를 대변하는 매개 변수들에 대한 관리가 강화되고 있고, 그에 따라 FDC 인터락 발생이 늘어나고 있지만 실제 장비 이상이 아닌 가성의 비율이 전체의 86%에 달하고 있다. 모든 인터락은 엔지니어의 판단을 거쳐서 처리되어야 하는데, 이를 정확히 판단할 수 있는 경험적 지식을 가진 전문가의 수는 한정되어 있고, 비숙련자의 경우 진성을 가성으로 오판하는 경우에 발생되는 품질 위험을 최소화하기 위하여 가성을 진성으로 오판하면서 발생되는 인력 손실을 감수하는 방향으로 결정을 내리는 경우가 많다. 결국 품질을 위하여 사람이 힘든 방향으로의 업무가 이루어지게 되므로 FDC 인터락 분류에...