Application of Scanning Electron Microscopy in Forensics

Razvojem moderne fizike i promjena u shvaćanju prirode čestica i valova početkom 20. stoljeća, javila se ideja o mikroskopu koji bi mogao imati rezoluciju na atomskoj razini. Nakon što je prihvaćeno da to neće biti moguće postići svjetlosnim mikroskopom, iskorišten je napredak u znanosti i tehnologiji pa je izvor svjetlosti postao snop elektrona, a leće su postale zavojnice koje na elektrone iz snopa djeluju magnetskim poljem. Danas su elektronski mikroskopi zastupljeni u svim granama znanosti, a u ovom radu je posebna pažnja posvećena pretražnom elektronskom mikroskopu i njegovim primjenama u različitim granama forenzičke znanosti – od identifikacije čestica nastalih ispaljivanjem metka do jajašaca različitih vrsta muha