氧化鋅由於其具有寬能隙(~3.37 eV)的以及室溫下較高的激發活化能(~60 meV),在室溫下為非常穩定的半導體材料,這些特性使得氧化鋅能作為現今大量製作發展的光電元件的半導體材料。 本論文使用旋轉塗佈法制備氧化鋅晶種層,再將製備好的晶種層樣品利用水溶液法在90 ˚C的環境中生長3個小時,長出大量具單一晶向的氧化鋅奈米線,並透過摻雜元素(錳、鎂…等)。奈米線透過電子顯微鏡觀察其形貌,XRD分析中我們可發現本研究生長的氧化鋅奈米線為單晶結構,其生長方向為(002)方向,同時我們也利用TEM印證同樣的結果。 材料特性檢測部份我們使用拉曼光譜、XPS等儀器對氧化鋅奈米線進行檢測,能觀察到氧化鋅奈米線是以纖鋅礦結構為主、且Zn離子主要是以Zn 2p3/2與Zn 2p1/2為主要的形式存在。 材料檢測部分結束後我們利用聚焦離子束微影法將氧化鋅奈米線製成單根奈米線元件,測量不同的元件電性後再進行室溫下1080ppm的CO氣體感測。結果顯示當使用Sapphire基板生長的氧化鋅奈米線可以量測到CO氣體通入時的電流訊號變化。Zinc oxide (ZnO) is a wide band gap (~3.37 eV) and higher excitation energy (~60 meV) at room temperature (RT) semiconductor. These characteristics allow ZnO been widely used in photo-electric devices. In this study, we use spin-coating to make ZnO seed layer, then fabric...