Surface structure characterization by X-ray photoelectron diffraction of Sn ultra-thin films deposited on Pd(111)

FAPESP - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE SÃO PAULOCAPES - COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DE PESSOAL E NÍVEL SUPERIORCNPQ - CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICOFAPEG - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE GOIÁSThe formation of surface alloys obtained by annealing ultra-thin films of Sn deposited on a Pd(111) surface was characterized by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), low-energy electron diffraction (LEED), and X-ray photoelectron diffraction (XPD). Annealing the surface at 600 K produced a (root 3x root 3)R30 degrees LEED pattern, and the comparison between experimental and theoretical XPD results indicated the formation of a corrugated bi-dimensional Pd2Sn surface alloy, with Sn atoms being present not only on the outmost layer but also at least on the second internal layer.685712FAPESP - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE SÃO PAULOCAPES - COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DE PESSOAL E NÍVEL SUPERIORCNPQ - CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICOFAPEG - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE GOIÁSFAPESP - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE SÃO PAULOCAPES - COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DE PESSOAL E NÍVEL SUPERIORCNPQ - CONSELHO NACIONAL DE DESENVOLVIMENTO CIENTÍFICO E TECNOLÓGICOFAPEG - FUNDAÇÃO DE AMPARO À PESQUISA DO ESTADO DE GOIÁS2017/25983-8Sem informação302450/2017-207/2016 (23187