Energy dependence of the production of escape peaks in energy dispersive X-ray fluorescence spectroscopy

Se presenta el modelo teórico para calcular la energía e intensidad relativa de los picos de escape correspondientes a los rayos-X característicos presentes en un espectro de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía (FRXDE). Los picos de escape de elementos presentes en una muestra en alta concentración interfieren con la identificación de rayos-X característicos de elementos presentes en muy baja concentración. El resultado de este análisis se utiliza para simular con buenos resultados la presencia de los picos de escape de una muestra de ceniza de madera que contiene K y Ca en alta concentraciónA theoretical model is presented to calculate the energy and relative intensity of escape peaks corresponding to the characteristic X-rays present in an energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) spectrum. The escape peaks of elements present in high concentration in a sample interfere with the identification of characteristic X-rays of elements present in low concentration. The results of this analysis have been used to simulate with good results the presence of the escape peaks in a sample of wood ashes with high concentration of K and Ca