Caracterización de antenas mediante termografías de infrarrojos

La presente Tesis Doctoral toma como base los trabajos iniciados por investigaciones de la Universidad de Colorado(USA) orientados hacia la medida de las correintes superficiales inducidas por radiaciones electromagneticas incidentes enestructuras metálicas y no metálicas con un sistema rápido y no invasivo que solventase las incertidumbres propias en las tediosas medidas basadas en sondas magneticas. El proceso de medida se sustenta en la determinación de la temperatura alcanzada por un material con perdidas al ser calentado por la incidecia de una onda electro-magnetica. La distribución termicaen la superficie del material adquirida con una cámara de infrarrojos (termografía) proporciona información sobre la densidad de potencia absorbida en su interior. En la actualidad estos trabajos tienen hacia la obtención de diagramasde radiación de antenas a partir de medidas en campo próximo empleando Técnicas interferométricas a partir de termografías. Los últimos resultados que con dicha Tecnica se han obtenido son tan solo prometedores. El trabajo desarrollado en esta Tesis mejora los resultados obtenidos por los investigadores norteamericanos en la caracterización de antenas empleando medidas termográficas en dos planos paralelos próximos a la antena a caracterizar con objeto de recuperar las fases presentes en el primero de ellos. Le emplean para ello diversos algoritmos de reconstrucción de fase a partir de medidas de módulo. En este trabajo se proponen dos nuevos logaritmos y una evaluación de los errores involucrados en el proceso de medida con termografías de infrarrojos