The thermal isomerization of polyacetylene studied by Raman scattering

A study of the thermal isomerization of cis-(CH)x films has been carried out by means of Raman scattering spectroscopy. It is found that the Raman band profiles, induced by trans-(CH)x films, are dependent both on the temperature and on the isomerization time. The trans sequences first increase in length to a maximum length occurring at the maximum of the d.c. conductivity as measured in similar samples. A degradation of the films is then observed as punctual defects alter the carbon-carbon bond conjugation.Nous présentons une étude, par diffusion Raman, de l'isomérisation thermique de films de polyacétylène. Pour différents temps et températures d'isomérisation, nous montrons que le profil des bandes Raman induites par le trans-(CH)x est modifié. Dans un premier stade, nous observons que les séquences trans augmentent en longueur jusqu'à un maximum qui correspond au maximum de conductivité électrique mesuré sur des échantillons similaires. Ensuite, une dégradation des films est observée, correspondant à la formation de défauts ponctuels altérant l'alternance des liaisons carbone-carbone