Dispositif de mesures du pouvoir thermoélectrique sur des échantillons très résistants entre 4 et 300 K

A new method is described for dynamically measuring the thermoelectric power of small samples in the temperature range 4-300 K. Measurements may be performed on samples with resistivities as high as 1010 Ω cm. The device has been checked on a crystal of stoichiometric magnetite. Although designed for highly resistive materials, it may be used for Seebeck measurements on metallic samples with α < 10 μV/°C.L'appareil décrit dans le texte est conçu pour mesurer le pouvoir thermoélectrique de monocristaux de forte résistivité (≃ 1010 Ω cm) entre 4 et 300 K. Il permet d'effectuer des mesures sur des échantillons de faibles dimensions (< 0,5 mm). Le dispositif a été testé sur un monocristal de magnétite de composition stœchiométrique. Bien que non construit pour, il est capable de mesurer le coefficient de Seebeck d'échantillons métalliques pour lesquels α < 10 μV/°C