Constantes optiques et pouvoir réflecteur de couches minces de fluorures dans l'ultraviolet lointain

After reviewing the principle of the method for determining, in the far ultraviolet, the optical constants of thin dielectric films, results for some alkali fluorides and alkaline earth fluorides are presented. The variations, with film thickness, of the vacuum-film surface reflecting power, can be related to the layer structure, and the order of magnitude of the surface irregularities on the coating can be deduced.Après avoir rappelé le principe de la méthode de détermination dans l'ultraviolet lointain, des constantes optiques de couches minces diélectriques, on présente les résultats relatifs à quelques fluorures alcalins et alcalino-terreux. Les variations, avec l'épaisseur du dépôt, du facteur de réflexion superficiel, vide-couche, peuvent se relier à la structure de la couche, et l'on en déduit un ordre de grandeur des dimensions moyennes des irrégularités en profondeur de la surface du dépôt