The lattice distorsions induced by the dislocations decrease the contrast and widen the channelling lines observed in a scanning electron microscope. A model is proposed relating the line width to the dislocation density lying under the specimen surface, in satisfying agreement with the experimental results obtained for aluminium.Les distorsions de réseau cristallin introduites par les dislocations diminuent le contraste et augmentent la largeur des pseudo-lignes de Kikuchi observées au microscope électronique à balayage. Un modèle est présenté reliant la largeur des lignes à la densité des dislocations sous-jacentes à la surface de l'échantillon, en accord satisfaisant avec les résultats expérimentaux obtenus pour l'aluminium
Des sous-joints de flexion pure dans le germanium ont été observés par microscopie électronique à ha...
It is challenging to quantify the geometrically necessary dislocation (GND) density at the nanoscale...
The kinematical theory developed by Hirsch et al. (1960) for the diffraction contrast of electron tr...
La technique Imagerie par Contraste de Canalisation d’Électrons (ECCI) est utilisée dans le Microsco...
Thèse confidentielle jusqu'au 14 septembre 2021.Version abrégée en ligne.The Electron Channeling Con...
The origin of particle dechanneling due to dislocations is briefly recalled. An experiment is then d...
Dislocation images in the high resolution scanning electron microscope with conventional filament ha...
La microscopie électronique par transmission est appliquée à l'étude de l'arrangement des dislocatio...
On montre que les dislocations sont dissociées non seulement au repos mais aussi en mouvement. En ut...
Les dislocations d'interfaces qui se produisent après épitaxie ou diffusion dans les semiconducteurs...
The forward scattering geometry in the scanning electron microscope enables the acquisition of elect...
<div><p>The formation of dislocation cells has a significant impact on the strain hardening behaviou...
La technique Imagerie par Contraste de Canalisation d'Electron (ECCI) est utilisée en microscopie él...
The dislocation structure of quenched aluminium alloys is very different from quenched pure aluminiu...
In this paper, severe plastic deformation (SPD) is applied to commercially pure aluminum. Monotonic ...
Des sous-joints de flexion pure dans le germanium ont été observés par microscopie électronique à ha...
It is challenging to quantify the geometrically necessary dislocation (GND) density at the nanoscale...
The kinematical theory developed by Hirsch et al. (1960) for the diffraction contrast of electron tr...
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Thèse confidentielle jusqu'au 14 septembre 2021.Version abrégée en ligne.The Electron Channeling Con...
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La microscopie électronique par transmission est appliquée à l'étude de l'arrangement des dislocatio...
On montre que les dislocations sont dissociées non seulement au repos mais aussi en mouvement. En ut...
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The forward scattering geometry in the scanning electron microscope enables the acquisition of elect...
<div><p>The formation of dislocation cells has a significant impact on the strain hardening behaviou...
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The dislocation structure of quenched aluminium alloys is very different from quenched pure aluminiu...
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It is challenging to quantify the geometrically necessary dislocation (GND) density at the nanoscale...
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