Dispositif interférentiel destiné à la mesure de l'épaisseur mécanique de couches minces

The article shows low it is possible to reverse the contrast of multiple wave fringes and consequently improve the sharpness of these fringes. This method has been utilized to measure the mechanical thickness of thin films and to control the flatness of the support. The precision is of the order of 3 Angströms.Cet article montre comment il est possible d'inverser le contraste des franges à ondes multiples et ainsi d'améliorer le pointé de ces franges. Cette méthode a été utilisée pour mesurer l'épaisseur mécanique de couches minces et contrôler la planéité de support. La précision est de l'ordre de 3 Angströms