X-RAY SPECTROSCOPY OF HIGHLY-IONIZED ATOMS IN AN ELECTRON BEAM ION TRAP (EBIT)
- R.E. MARRS
- C. BENNETT
- M.H. CHEN
- T. COWAN
- D. DIETRICH
- J.R. HENDERSON
- D.A. KNAPP
- M.A. LEVINE
- K.J. REED
- M.B. SCHNEIDER
- J.H. SCOFIELD
DOIAbstract
Au laboratoire national de Lawrence Livermore, un piège à ions EBIT (Electron Beam Ion Trap) est utilisé afin de produire et de piéger des ions très fort chargés (q ≤ 70+), permettant de réaliser des mesures de spectroscopie rayons-X. Des mesures récentes de recombinaison diélectronique, d'excitation par impact électronique, et d'énergies de transitions sont présentées.An Electron Beam Ion Trap at Lawrence Livermore National Laboratory is being used to produce and trap very-highly-charged ions (q ≤ 70+) for x-ray spectroscopy measurements. Recent measurements of dielectronic recombination, electron impact excitation and transition energies are presented
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