Orientador : Bernard WaldmanDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia EletricaResumo: Com a drástica diminuição das dimensões nas novas gerações de transistores MOS VLSI, um aumento considerável de efeitos dimensionais no comportamento destes dispositivos tem surgido. Isto traz como conseqüência imediata, a impossibilidade de utilização dos modelos clássicos analíticos no projeto e no estudo destes transistores. A proposta deste trabalho é a de desenvolver um simulador bidimensional para transistores MOSFET de canal curto, que permita uma caracterização precisa destes dispositivos em equilíbrio termodinâmico. Nesta situação, a influência de efeitos dimensionais sobre VT pode ser melhor estudada, pos...
Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica Universidade Federal de Santa Catarina Centro Tecn...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós...
A redução das dimensões dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impõe diversos...
Resumo: Com a drástica diminuição das dimensões nas novas gerações de transistores MOS VLSI, um aume...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós...
Orientador: Wilmar Bueno de MoraesDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculd...
Tese (Doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-gradu...
Orientador: Furio DamianiDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de En...
O foco deste artigo é apresentar uma análise entre transistores de porta dupla para diferentes compr...
Orientador: Marcos Andre da Frota MattosDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, ...
Neste projeto foram realizadas medidas sobre transistores experimentais 5μm fabricados no Laboratóri...
Orientador : Prof. Dr. José Viriato Coelho VargasCoorientadores : Dr. Wellington Balmant, Dr. Jua...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina. Centro TecnologicoNeste trabalho ap...
Orientador : Mauricio Ferreira MagalhãesDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, ...
Orientador: Furio DamianiTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenhar...
Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica Universidade Federal de Santa Catarina Centro Tecn...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós...
A redução das dimensões dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impõe diversos...
Resumo: Com a drástica diminuição das dimensões nas novas gerações de transistores MOS VLSI, um aume...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós...
Orientador: Wilmar Bueno de MoraesDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculd...
Tese (Doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-gradu...
Orientador: Furio DamianiDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de En...
O foco deste artigo é apresentar uma análise entre transistores de porta dupla para diferentes compr...
Orientador: Marcos Andre da Frota MattosDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, ...
Neste projeto foram realizadas medidas sobre transistores experimentais 5μm fabricados no Laboratóri...
Orientador : Prof. Dr. José Viriato Coelho VargasCoorientadores : Dr. Wellington Balmant, Dr. Jua...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina. Centro TecnologicoNeste trabalho ap...
Orientador : Mauricio Ferreira MagalhãesDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, ...
Orientador: Furio DamianiTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenhar...
Seminário de Iniciação Científica e Tecnológica Universidade Federal de Santa Catarina Centro Tecn...
Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós...
A redução das dimensões dos dispositivos semicondutores para escalas submicrométricas impõe diversos...