Séparation et étude expérimentale des composantes de l'émission optique d'une couche continue d'argent d'épaisseur croissante (1-125 nm) bombardée par des électrons de 4 à 24 keV

The thickness of a very thin and continuous silver film vacuum-evaporated on an unoxidized aluminium substrate is grown from d = 1 to 125 nm by about twenty successive evaporations. Films as thin as d 70 nm ; W RPS increases with d, and is linearly correlated with the magnitude of the dip observed in reflectance curves of the silver films.On fait croître l'épaisseur d d'une couche d'argent très mince et continue, initialement déposée par évaporation dans l'ultra-vide sur un support d'aluminium non-oxydé, de d = 1 à 125 nm à l'aide d'une vingtaine d'évaporations successives. Pour d 70 nm ; une corrélation linéaire est établie entre WRPS, qui augmente avec d, et l'amplitude du pic d'absorption observé dans les couches du pouvoir réflecteur de la couche d'argent