Diffraction des rayons X en incidence rasante pour l'analyse des transformations structurales de surfaces d'aciers induites par implantation ionique multiple

La diffraction des rayons X en incidence rasante (GIXD) est une technique qui pennet de determiner la distribution en profondeur des différentes phases cristallines composant la surface d'un solide, et ceci en faisant varier la pénétration des rayons X avec l'angle d'incidence. Les transformations stnicturales des surfaces d'aciers ont eté étudiées par cette technique, dans le cas de l'implantation ionique multi-éléments, et ceci dans le but de comprendre les effets coupl6s de l'implantation du silicium et de l'azote sur la structure de l'acier et sur son comportement electrochiique. De plus, un commentaire est presenté sur l'intérêt et les limitations de la technique GIXD, notamment sur un dispositif de laboratoire.The Grazing Incidence X-ray Diffraction (GIXD) allows the determination of the in-depth distribution of various crystalline phases, which compose the surface of a solid, by varying the penetration depth with X-ray incidence angle. Surface transformations of stainless steel have been investigated with this technique, in the case of single- and multi-elements ionic implantation, in order to understand the coupled effects of silicium and nitrogen at microstructural level and in electrochemical behaviour. Interests and limits of laboratory G IXD technique are presente