SIMS AND SCANNING ION MICROSCOPY

Un microscope à ballayage ionique développé aux "Berkeley Nuclear Laboratories" du C.E.G.B., est décrit. Par bombardement ionique à partir d'une source de gallium métal liquide et analyses consécutives des ions secondaires et des électrons émis, selon des techniques conventionnelle de spectroscopie de masse et de microscopie électronique, cet appareil permet d'obtenir le spectre de masse des ions secondaires et de visualiser la surface examinée. Des résultats de microscopie à ballayage appliquées à des études de matériaux métalliques, inorganiques et organique seront présentés.A scanning ion microscope developed at the CEGB's Berkeley Nuclear Laboratories is described. By ion bombardment from a liquid metal gallium source, and subsequent analysis of both the resultant secondary ions and secondary electrons using conventional techniques of mass spectrometry and electron microscopy, this instrument offers both secondary ion mass analysis (SIMS) and the facility for imaging the surface under investigation. Results from the application of the scanning ion microscope to the study of metallic, inorganic and organic materials are presented