X-RAY AND SCANNING CATHODOLUMINESCENCE IMAGING OF SMALL-ANGLE GRAIN BOUNDARIES AND DISLOCATIONS IN CdTe CRYSTALS

En utilisant d'une part la topographie de rayons X (RXT), et d'autre part la microscopie électronique à balayage en mode cathodoluminescence (CL-IR), nous sommes en mesure de visualiser les défauts du réseau dans les monocristaux de CdTe. La possibilité d'identification du défaut est un avantage de la technique RXT. De plus, la surface examinée peut être imagée. La cathodoluminescence garantit cependant une meilleure résolution. Les défauts observés en cathodoluminescence dans des cristaux de CdTe ont été identifiés comme des sous-joints et des dislocations à vis.By employing the Reflection X-ray Topography (RXT), on one hand, and the cathodoluminescence (CL-IR) mode of operation of the Scanning Electron Microscope, on the other hand, we are able to visualize the lattice defects in CdTe sinole crystals. The possibility of defect identification is the advantage of the RXT technique. Moreover, the examitied surface can be imaged as a whole. Cathodoluminescence however, guarantees higher resolution. The defects in CdTe crystals, observed in cathodoluminescence images, have been identified as small-angle boundaries and screw dislocations