ORIGIN OF THE LOW FREQUENCY INTERNAL FRICTION BACKGROUND IN PURE METALS AND DILUTE SOLID SOLUTIONS

Nous étudions le fond de F.I. à basse fréquence d'échantillons d'or contenant de faibles concentrations de Pt. Les mesures systématiques en fonction de la fréquence et de l'amplitude montrent que le fond de F.I. dû aux dislocations ne peut être expliqué par des processus de relaxation.We study the I.F. background at low frequency of gold samples containing low concentrations of Pt. Systematic measurements of I.F. as a function of frequency and strain amplitude show that the I.F. background due to dislocations cannot be explained by relaxation processes