SHORT RANGE STRUCTURE AND SOME PHYSICAL PROPERTIES OF THE GLASSES IN THE SYSTEM Na2O-Ga2O3-SiO2

On a déterminé le domaine de formation vitreuse dans le système Na2O-Ga2O3-SiO2 et on a mesuré la densité, la dureté et le coefficient de dilatation thermique. On a trouvé que le domaine de formation vitreuse dans ce système est beaucoup plus étendu en comparaison de celui dans le système Na2O-Al2O3-SiO2. Les propriétés ont montré un changement brusque lorsque rapport Ga/Na = 1. Cette anomalie est analogue à celle observée dans le système Na2O-Al2O3-SiO2. Les résultats des mesures des spectres IR, des spectres d'émission des rayons X et des spectres de diffraction des rayons X suggèrent que des oxygènes non pontants existant dans les verres de silicate de sodium se transforment en oxygènes pontants avec l'addition de Ga2O3 pour des rapports Ga/Na inférieurs à l'unité, et que des oxygènes non pontants apparaissent de nouveau avec la formation du liaison Ga-O-Ga lors de l'addition supplémentaire de Ga2O3 lorsque le rapport Ga/Na > 1.The glass-forming region in the system Na2O-Ga2O3-SiO2 was determined, and the density, hardness and thermal expansion coefficient were measured. The glass-forming region in this system was found to be much wider than that in the Na2O-Al2O3-SiO2 system. The properties showed a sudden change at the composition of Ga/Na ratio 1. This anomaly is similar to that observed in the Na2O-Al2O3-SiO2 system. The results of IR spectra, X-ray emission spectra and X-ray diffraction patterns suggest that the non-bridging oxygens existing in sodium silicate glasses change into bridging oxygens with the addition of Ga2O3 at Ga/Na ratio less than 1 and then appear again along with the formation of Ga-O-Ga bond with further addition of Ga2O3 over the Ga/Na ratio of 1