ON THE PHASE SPECTRA OF INTERFEROGRAMS

A completely general analysis of interferograms reveals the phases as well as the amplitudes of the Fourier components. Even though the phase information is usually neglected, it can serve several useful purposes. 1° It directly facilitates phase corrections for off-center interferograms. The correction also eliminates the systematically positive contribution of noise. Furthermore the correction is accomplished without the necessity of any symmetry around the white light fringe or the registration of a sample point on that fringe. The accurate location of the white light fringe is incidently established without recourse to interpolation. 2° It provides for easy evaluation of the significance of weak signals and also indicates the direction of radiation flow. 3° It serves as a diagnostic on the properties of the interferometer and errors in the interferogram. Errors in individual samples, spurious frequencies, and signal saturation become evident. 4° It serves as a direct measure for refractometry, and can also serve directly to measure the frequency and equivalent width of unresolvable and unblended absorption lines.Une analyse complète des interférogrammes révèle les phases aussi bien que les amplitudes des composantes de Fourier. Bien que l'information sur la phase soit négligée en général elle peut servir à plusieurs fins utiles : l° Elle peut faciliter la correction de phase pour des interférogrammes décentrés. La correction élimine également la contribution systématiquement positive du bruit. De plus la correction est obtenue sans nécessiter aucune symétrie autour de la frange de lumière blanche, ou l'enregistrement d'un échantillon sur cette frange. La position précise de la frange de lumière blanche est établie sans interpolation. 2° Elle permet une évaluation facile de la signification de signaux faibles, et indique également la direction du flux de rayonnement. 3° Elle permet un diagnostic des propriétés de l'interféromètre et des erreurs dans l'interférogramme. Les échantillons erronés, les fréquences parasites et une saturation du signe deviennent évidents. 4° Elle sert directement en réfractométrie et peut également servir à mesurer directement la fréquence et la largeur équivalente de raies d'absorption non résolues