GRAIN BOUNDARY ELECTRICAL ACTIVITY OF n-TYPE GERMANIUM

L'observation en mode EBIC du Microscope Electronique à Balayage a été utilisée pour caractériser l'activité électronique des joints de grains dans des échantillons de germanium (type n, dopés au phosphore ou à l'antimoine). Les joints de grains ont été également caractérisés d'un point de vue structural en utilisant les diagrammes de canalisation d'électrons (ECP) et la topographie en réflexion des rayons X. Les joints de faible désorientation présentent un contrast EBIC qui croit quand la tension d'accélération des électrons primaires augmente. Les résultats ont été analysés en utilisant les modèles existants ; ceux-ci ne permettent pas une description correcte des observations expérimentales car ils négligent la contribution de la zone déserte au contrast.The electron beam induced current mode (EBIC) of the Scanning Electron Microscope has been used to characterize the electrical activity of grain boundaries in germanium samples (n-type, doped with P or Sb). The boundaries have also been characterized from a structural point of view using Electron Channeling Patterns and X-ray topography. Low angle boundaries show an EBIC contrast which increases when the primary electron beam accelerating voltage increases. The results have been analyzed using existing models ; they are not able to well describe the observed behaviour as they neglect the depletion zone contribution to the contrast