Entwicklung eines Präzisionsmeßplatzes zur Untersuchung von Primärelektroniken für piezoresistive Sensoren

Zusammenfassung: Zur Ansteuerung und Auswertung von Wheatstoneschen Meßbrücken, wie sie auf modernen Drucksensoren eingesetzt werden, bieten eine Reihe von Herstellern ASICs (Application Specified Integrated Circuits) an. Auf diesen ICs sind in der Regel ein Instrumentenverstärker, eine Referenzspannungsquelle, sowie eine Ausgangsverstärkerstufe und gegebenenfalls ein Spannungs-Stromwandler integriert. Die von den Herstellern angegebenen Kenndaten und Übertragungseigenschaften dieser ICs basieren allerdings auf unterschiedlichen z.T. unbekannten Voraussetzungen, wodurch ein Vergleich dieser Bauteile anhand der Daten erschwert bzw. unmöglich wird. Um eine unabhängige und einheitliche Vergleichsbasis zu schaffen und eine vergleichbare Aussage über die Eigenschaften dieser ASICs treffen zu können, wurde im Rahmen der vorliegenden Arbeit ein Meßplatz entwickelt. Von besonderen Interesse ist bei diesen Bausteinen die Temperaturabhängigkeit und die damit verbundene Änderung der Kenngrößen wie z.B. des Verstärkungsfaktors. Deshalb werden die Messungen mit Hilfe eines Klimaschrankes in einem Temperaturbereich von -10°C bis +80°C durchgeführt. Das ganze Meßverfahren ist automatisiert und wird zentral von einem Computer gesteuert. Die verwendete Steuerung wurde unter Labview programmiert