Zusammenfassung: In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschrieben, mit dem TTL-IC's der 74'er und CMOS-Bausteine der 4000'er Serie getestet werden können. Die IC's werden auf ihre logische Funktion, nicht aber auf ihr Zeitverhalten hin geprüft. Das zu testende IC wird in einen 20-poligen Testsockel eingesetzt. Jeder Pin des Testsockels kann als Eingang oder als Ausgang angesprochen werden. Die Spannungsversorgung des zu testenten IC's wird über Reed-Relais geschaltet. Die Hardware ist so ausgelegt, daß das Testgerät durch falsches Einsetzen des IC's im Testsockel oder beim Testen eines defekten IC's nicht beschädigt werden kann. Über Leuchtdioden wird die Stelle markiert, an der das zu testende IC ein...
Die Testing and Test Control Notation ist eine international standardisierte Testsprache zur Definit...
Das Packaging der Zukunft steht vor großen Herausforderungen, die sich aus einer immer höheren Packu...
CMOS kompatible Bauelemente erweitern den Anwendungsbereich von CMOS-Schaltungen. Sperrschicht-Felde...
Zusammenfassung: In dieser Arbeit wird die Entwicklung der Hardware für ein IC-Testgerät beschr...
Zusammenfassung: Diese Arbeit beschreibt die Software zur Steuerung des IC-Testgerätes aus der ...
Ziel dieser Arbeit ist die Weiterentwicklung einer bestehenden Testumgebung. Aufgabe der Testumgebun...
Ein Bereich der Mikroelektronik der unter anderem in den letzten Jahren stark gewachsen ist, ist der...
Auf IC-Ebene ist bei den einstrahlenden EMV-Tests durch bisher fehlende Einstrahlmöglichkeiten mit E...
Die Entwicklung der Wafer-Dünnungstechnik ist schon seit einigen Jahren eine wic htige Voraussetzung...
Neben dem eigentlichen Testen umfaßt eine Teststrategie die Auswahl eines geeigneten Fehlermodells, ...
Betriebs- und Prozessparameter beeinflussen die Laufzeit von Signalpfaden im IC. Um eine fehlerfrei...
Das Vordringen des Computers in alle Bereiche des menschlichen Lebens ist nicht mehr übersehbar. Dab...
Zusammenfassung: In dieser Arbeit wurde ein modularer Rechner für Steuerungsaufgaben aufgebaut....
Das Vertrauen eines vermeintlich sicheren Systems ist oftmals in Hardware verankert. Die wichtigste ...
Es wurden ein Testchip und entsprechende Testverfahren entwickelt, die es gestatten, sowohl das Elek...
Die Testing and Test Control Notation ist eine international standardisierte Testsprache zur Definit...
Das Packaging der Zukunft steht vor großen Herausforderungen, die sich aus einer immer höheren Packu...
CMOS kompatible Bauelemente erweitern den Anwendungsbereich von CMOS-Schaltungen. Sperrschicht-Felde...
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