Impedanssispektroskopia elektroniikan pakkaustekniikassa:Johdepolymeerien ja niiden kontaktirajapintojen karakterisointi

Elektroniikan laitteiden käyttötaajuuksien yhä kasvaessa vaaditaan myös elekt- roniikkakomponenttien ja niissä käytettävien materiaalien ominaisuuksien tuntemusta yhä laajemmalla taajuusalueella. Näitä ominaisuuksia ovat esimerkiksi johtavuus ja dielektriset ominaisuudet. Myös luotettavuus- ja laatunäkökohdat vaativat usein sähköisten ominaisuuksien mittaamista mahdollisimman laajalla taajuusalueella esimerkiksi ennen ja jälkeen rasitustestin. Tässä työssä on käsitelty impedanssispektroskopian soveltuvuutta sekä yksittäisten materiaalien että eri materiaalien muodostamien rajapintojen sähköisten ominaisuuksien analysointiin taajuusalueella 10 Hz - 3 GHz. Erityisesti on pyritty ottamaan huomioon käytännön mittauksissa usein esille tulevat ongelmat, kuten mittalaitteisiin kuuluvien näytepidikkeiden vaatimat näytemuodot sekä muut mittalaitteiden erityisominaisuudet